[发明专利]触控屏上侦测多点触碰的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种触控屏上侦测触碰点的方法，尤其是指在触控屏上侦测多点触碰的方法。

背景技术

现今，触控屏已被广泛的整合于各类电子产品上作为输入装置，使用者仅需以触碰物体（例如手和触控笔等）在其上滑动或者接触，使光标产生相对移动或者绝对移动，即可完成包括文字书写、卷动视窗及虚拟按键等各种输入。其中，电容式触控屏是一种可供手指在平滑的触控屏上移动以控制光标移动的触控屏，当手指触碰触控屏时，所触碰位置的第一感测方向及第二感测方向上的感应能量大小将产生改变，通过检测感应能量的大小即可判断物体是否触碰电容式触控屏且计算出触碰点的位置坐标。

现阶段，触控屏上侦测多点触碰的方法中，所涉及的触控屏是业界最常用的菱形块状，且两层菱形块通过桥接的方式布设在触控屏上。当触控对象如手指触碰该触控屏后，利用扫描两个方向上所获得的感应量就可以最终获取触碰点的位置坐标，上述方法虽然可以侦测出触碰点的位置坐标，但是在侦测多指触碰点的位置时，必须不断扫描两个方向上的感应量才能获取触碰点在两个方向上的位置点坐标。如此以来，不但影响侦测的速度，而且侦测多点触碰点的算法也更加复杂，不利于触碰点坐标的计算。

因此需要为广大用户提供一种更加简便的在触控屏上侦测多点触碰的方法来解决以上问题。

发明内容

本发明实际所要解决的技术问题是如何提供一种不但可加快侦测触碰点的速度而且更加容易侦测触碰点位置的方法。

为了实现本发明的上述目的，本发明提供了一种触控屏上侦测多点触碰的方法，所述触控屏上设置有两层ITO，每层ITO上均由若干长条状的电极块组成，其步骤如下：首先，将每个电极块的其中一端作驱动电极，另一端作为探测电极逐次扫描一个方向上的电极块，侦测此时感应量的变化波形图；其次，判断上述波形图中是否出现了大于预设门槛值的感应峰值；若满足，且触碰点的个数与峰值的数目相同，则表明该峰值处有触控对象触碰，且触控对象在此方向上的具体位置根据峰值及其附近的一组感应量数据确定；最后，根据上述波形图中的峰值与无触碰状态下输出波形图的峰值的差值判断触碰点在另一个方向上的位置坐标。

本发明所述的在触控屏上侦测多点触碰的方法，由于在很多情况下，扫描一次就可以侦测出触碰点的位置点坐标，所以侦测的速度提高了很多；再者，本发明所述的利用扫描时激励源的输出波形来判断触碰点位置的方法也非常简单，提高了侦测的准确率。

附图说明

图1是根据本发明所述触控屏的结构示意图。

图2是根据本发明触碰所述触控屏后的感应量变化示意图。

图3是根据本发明所述触控屏信号输入、输出后的波形图。

图4是根据本发明所述触控屏在无触碰和触碰后的信号输出对比图。

图5根据本发明所述触控屏触碰后的位置示意图。

图6是根据本发明触碰所述触控屏后的感应量变化的另一种示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的说明。

本发明所述的触控屏上侦测多点触碰的方法，请参考图1所示，所述触控屏1上设置有两层ITO，每层ITO上均由若干长条状的电极块10组成，所述电极块10均连接到芯片（未图示）的相应引脚的电极上。