[发明专利]一种单层ITO的定位方法无效
申请号: | 201110292442.4 | 申请日: | 2011-09-30 |
公开(公告)号: | CN102419653A | 公开(公告)日: | 2012-04-18 |
发明(设计)人: | 陈奇;李海 | 申请(专利权)人: | 苏州瀚瑞微电子有限公司 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215163 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 单层 ito 定位 方法 | ||
1.一种单层ITO的定位方法,所述单层ITO由若干电极块组成,形成若干纵行和纵列,其步骤如下:
扫描所述单层ITO,获取每个电极块分别在两个方向上的感应值;
找出两个方向上的感应值均大于预设门槛值的电极块;
根据在同一方向上相邻电极块中感应值都最大的电极块判断出触碰点的位置。
2.如权利要求1所述的定位方法,其特征在于:所述触控电极块均通过导线连接到芯片的相应引脚上。
3.如权利要求1所述的定位方法,其特征在于:所述触控电极块呈矩形或者正方形。
4.如权利要求1所述的定位方法,其特征在于:所述扫描单层ITO时,可以先扫描一个方向上的电极块,然后再继续扫描另一个方向上的电极块。
5.如权利要求1或4所述的定位方法,其特征在于:所述扫描单层ITO时,逐次顺序同时扫描两个相邻的两个电极块。
6.如权利要求5所述的定位方法,其特征在于:若其中所述任意一电极块作为扫描端,则依次顺序相邻的另一电极块作为参考端。
7.如权利要求1所述的定位方法,其特征在于:所述预设门槛值是固定值。
8.如权利要求1所述的定位方法,其特征在于:所述触碰点的位置就是所述在同一方向上相邻电极块中感应值都最大的电极块。
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