[发明专利]中央处理器参数的测试方法及其测试设备

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于测试中央处理器参数的测试方法及其测试设备。

背景技术

通常，中央处理器(Central Processing Unit, CPU)以及其他具有数据处理功能的集成芯片正常工作的性能参数，如电压、电流、功率等标称值，均标示在厂家提供的该芯片的资料库(Database)中。然而，标示在资料库中的性能参数的标称值往往与实际该芯片实际工作时的所展现的工作性能参数有一定出入，尤其是中央处理器电源性能参数，例如输入电压、输入电流或者输入功率。若直接采用所列性能参数的标称值，则在后续采用该等芯片进行电路板设计时，常常与该芯片配合的电路模块会出现工作不稳定的情形，导致该后续设计出的电路板的准确性与可靠性较差。因此，为合理的设计具备该等芯片的电路板，通常会对该电路板的电压与电流输入端进行测量，以测量值估算中央处理器的功耗。然而，由于电路板上设置有众多的电路及布线，测量值实际体现的是这个电路板的总体功耗，而不能准确的体现芯片的实际功耗，且该总功耗也无法准确地了解到该芯片所涉及到的不同工作状态时的电压或电流的情况。因此，此种测试方法仍然存在无法准确、可靠地获得芯片各性能参数的实际值，导致电路的准确性与可靠性不高。

发明内容

为解决现有技术中中央处理器电源性能参数测试的准确性与可靠性较差的技术问题，提供一种可提高中央处理器电源性能参数的准确性与可靠性的测试方法以及测试设备。

一种测试设备，其包括一主电路板、一连接器与一测试模组，该连接器与该测试模组设置于该主电路板上，该测试模组经由该连接器与主电路板电连接，该主电路板、该连接器与测试模组配合用于测试一待测试的中央处理器的电源性能参数，该连接器包括若干连接端，该若干连接端中包括至少一第一电源端，该至少一电源端用于连接对应该中央处理器的至少一电源引脚，该测试模组用于测试该中央处理器对应该至少一第一电源端的电源性能参数。

一种测试方法，以用于测试一中央处理器的电源性能参数，包括以下步骤：

提供一测试设备；

将该中央处理器与该测试设备连接；

提供一电源信号至该测试设备与该中央处理器；及

该测试设备测试该中央处理器的电源性能参数。

相较于现有技术，在电路设计之前，通过将测试设备对中央处理器不同工作状态的性能参数进行测试，充分了解该中央处理器的各个性能参数，从而有效提高后续电路设计的准确性与可靠性。

附图说明

图1是为本发明一实施方式中中央处理器参数测试设备的结构示意图。

图2是如图1所示测试设备的功能方框图。

图3是本发明一中央处理器参数测试方法的流程图。

主要元件符号说明