[发明专利]电源测试系统无效

专利信息
申请号: 201110293216.8 申请日: 2011-09-30
公开(公告)号: CN103033768A 公开(公告)日: 2013-04-10
发明(设计)人: 朱鸿儒 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G01R31/40 分类号: G01R31/40;G01R19/165
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 电源 测试 系统
【权利要求书】:

1.一种电源测试系统,其包括参考电压模块、比较模块及显示模块;该比较模块包括一测试电压输入端用于输入被测电压;该参考电压模块根据该被测电压的额定值生成相对应的第一参考电压与第二参考电压,并将该第一参考电压与该第二参考电压输出至该比较模块;该比较模块包括一使能信号输出端,该比较模块将该被测电压与该第一、第二参考电压作比较,并经该使能信号输出端输出不同的使能信号至该显示模块;该显示模块用于显示表征该被测电压是否符合标准。

2.如权利要求1所述的电源测试系统,其特征在于:该比较模块将该被测电压与该第一、第二参考电压作比较,当该被测电压处于该第一、第二参考电压的范围内时,即被测电压值在第一、第二参考电压之间,该比较模块经该使能信号输出端输出第一使能信号至该显示模块,该显示模块显示该被测电压符合标准;当该被测电压不属于该第一、第二参考电压的范围内时,该比较模块经该使能信号输出端输出第二使能信号至该显示模块,该显示模块显示该被测电压不符合标准。

3.如权利要求1所述的电源测试系统,其特征在于:该第一参考电压为被测电压额定值的上限电压;该第二参考电压为被测电压额定值的下限电压。

4.如权利要求1所述的电源测试系统,其特征在于:该参考电压模块包括一双电压比较器芯片、第一可调电阻、第二可调电阻及电容;该双电压比较器芯片的第一同相输入引脚、第二同相输入引脚输入一标准参考电压;该双电压比较器芯片的第一反相输入引脚连接第一可调电阻,该双电压比较器芯片的第一输出引脚输出该第一参考电压;该双电压比较器芯片的第二反相输入引脚连接该第二可调电阻,该双电压比较器芯片的第二输出引脚输出该第二参考电压。

5.如权利要求4所述的电源测试系统,其特征在于:该双电压比较器芯片集成两个运算放大器。

6.如权利要求2所述的电源测试系统,其特征在于:该比较模块包括另一双电压比较器芯片、另一电容、一电阻及一开关晶体管;该另一双电压比较器芯片的第一同相输入引脚及第二反向输入端连接至该测试电压输入引脚同时输入被测电压,该另一双电压比较器芯片的第一反相输入引脚输入该第一参考电压,该双电压比较器芯片的第二同相输入引脚输入该第二参考电压,该另一双电压比较器芯片的第一输出引脚经该电阻与一外部电源连接并经该另一电容接地,同时该另一双电压比较器芯片的第一输出引脚连接至另一双电压比较器芯片的第二输出引脚并连接该使能信号输出端;该双电压比较器芯片的第二输出引脚还经该电阻与该电源连接。

7.如权利要求2所述的电源测试系统,其特征在于:该显示模块包括一绿色发光二极管、一红色发光二极管及一晶体管,其中该绿色发光二极管的阳极与一外部电源相连,该绿色发光二极管的阴极与该使能信号输出端相连;该红色发光二极管的阳极与该外部电源相连,该红色发光二极管的阴极与该晶体管的第一导通端相连,该第一晶体管的第二导通端接地,该晶体管的控制端连接该使能信号输出端。

8.如权利要求6所述的电源测试系统,其特征在于:该第一开关晶体管为一N型场效应晶体管,其中该第一开关晶体管的控制端、第一导通端及第二导通端分别对应于N型场效应晶体管的栅极、源极与漏极。

9.如权利要求1所述的电源测试系统,其特征在于:该电源测试系统还包括一电压模块,该测试电压输入端与该电压模块相连;该电压模块用于将被测电压极性反转与衰减处理,并将处理后的被测电压输出至该比较模块。

10.如权利要求9所述的电源测试系统,其特征在于:该电压模块包括一运算放大器、二电阻及电容;该运算放大器的正相输入端接地;该运算放大器的反相输入端经第一电阻连接该测试电压输入端,该运算放大器的反相输入端经该第二电阻与该运算放大器的输出端相连,该运算放大器的输出端输出经处理后的被测电压至该比较模块。

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