[发明专利]成膜基板的制造方法、成膜基板及成膜装置无效

专利信息
申请号: 201110295469.9 申请日: 2011-09-27
公开(公告)号: CN102447005A 公开(公告)日: 2012-05-09
发明(设计)人: 岩田宽 申请(专利权)人: 住友重机械工业株式会社
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/0224
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 徐殿军
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 成膜基板 制造 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种成膜基板的制造方法,制造在玻璃基板上成膜有钼的成膜基板,其特征在于,该制造方法具备:

第1成膜工序,在含有氧的第1气氛中,在所述玻璃基板的表面成膜第1钼层;及

第2成膜工序,在含氧率低于所述第1气氛的第2气氛中,在所述第1钼层的表面成膜第2钼层。

2.如权利要求1所述的成膜基板的制造方法,其特征在于,

所述第1成膜工序中,在含氧率为0.3%~5.0%的所述第1气氛中,成膜所述第1钼层。

3.如权利要求1或2所述的成膜基板的制造方法,其特征在于,

所述第2成膜工序中,比所述第1钼层更厚地成膜所述第2钼层。

4.一种成膜基板,其特征在于,具备:

玻璃基板;

第1钼层,成膜于所述玻璃基板的表面且含有氧;及

第2钼层,成膜于所述第1钼层的表面且氧含有量少于所述第1钼层。

5.如权利要求4所述的成膜基板,其特征在于,

所述第2钼层的方块电阻值低于所述第1钼层的方块电阻值。

6.如权利要求5所述的成膜基板,其特征在于,

所述第2钼层厚于所述第1钼层。

7.一种在玻璃基板成膜钼的成膜装置,其特征在于,具备:

第1成膜室,在所述玻璃基板的表面成膜第1钼层;

第2成膜室,在所述第1钼层的表面成膜第2钼层;及

氧浓度控制部,将所述第1成膜室内设为含有氧的第1气氛,而将所述第2成膜室内设为含氧率低于所述第1气氛的第2气氛,

所述第1成膜室在所述第1气氛下成膜所述第1钼层,

所述第2成膜室在所述第2气氛下成膜所述第2钼层。

8.如权利要求7所述的成膜装置,其特征在于,

所述第1成膜室兼作所述第2成膜室。

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