[发明专利]化学机械研磨装置有效

专利信息
申请号: 201110296305.8 申请日: 2011-09-30
公开(公告)号: CN102320029A 公开(公告)日: 2012-01-18
发明(设计)人: 邵军;陈洪雷;刘波 申请(专利权)人: 上海宏力半导体制造有限公司
主分类号: B24B37/00 分类号: B24B37/00
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 郑玮
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 化学 机械 研磨 装置
【权利要求书】:

1.一种化学机械研磨装置,包括硅片研磨装置和真空产生装置,所述真空产生装置和所述硅片研磨装置相连,所述真空产生装置包括:

真空发生器;

第一气体供应装置,通过第一导管和所述真空发生器相连;

第二气体供应装置,通过第三导管和所述真空发生器相连;

第二导管,其一端和所述第一导管相连,在相连处形成T形导通结构,且在所述T形导通处设置一气控三通阀门,另一端和所述硅片研磨装置相连;

其特征在于:所述真空产生装置还包括一阀门,所述阀门设置于所述第三导管上。

2.根据权利要求1所述的化学机械研磨装置,其特征在于:所述硅片研磨装置包括:第一旋转机构;研磨平台,和第一旋转机构相连;抛光垫,粘贴于所述研磨平台上;硅片吸盘,置于所述抛光垫上方,用于吸取硅片;第二旋转机构,和所述硅片吸盘相连;抛光垫研磨盘,位于所述抛光垫上方且位于所述硅片吸盘一侧;第三旋转机构,和所述抛光垫研磨盘相连。

3.根据权利要求2所述的化学机械研磨装置,其特征在于:所述第二导管和所述抛光垫研磨盘相连。

4.根据权利要求1所述的化学机械研磨装置,其特征在于:所述阀门为空气阀门。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海宏力半导体制造有限公司,未经上海宏力半导体制造有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110296305.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top