[发明专利]化学机械研磨装置有效
申请号: | 201110296305.8 | 申请日: | 2011-09-30 |
公开(公告)号: | CN102320029A | 公开(公告)日: | 2012-01-18 |
发明(设计)人: | 邵军;陈洪雷;刘波 | 申请(专利权)人: | 上海宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | B24B37/00 | 分类号: | B24B37/00 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 郑玮 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 化学 机械 研磨 装置 | ||
1.一种化学机械研磨装置,包括硅片研磨装置和真空产生装置,所述真空产生装置和所述硅片研磨装置相连,所述真空产生装置包括:
真空发生器;
第一气体供应装置,通过第一导管和所述真空发生器相连;
第二气体供应装置,通过第三导管和所述真空发生器相连;
第二导管,其一端和所述第一导管相连,在相连处形成T形导通结构,且在所述T形导通处设置一气控三通阀门,另一端和所述硅片研磨装置相连;
其特征在于:所述真空产生装置还包括一阀门,所述阀门设置于所述第三导管上。
2.根据权利要求1所述的化学机械研磨装置,其特征在于:所述硅片研磨装置包括:第一旋转机构;研磨平台,和第一旋转机构相连;抛光垫,粘贴于所述研磨平台上;硅片吸盘,置于所述抛光垫上方,用于吸取硅片;第二旋转机构,和所述硅片吸盘相连;抛光垫研磨盘,位于所述抛光垫上方且位于所述硅片吸盘一侧;第三旋转机构,和所述抛光垫研磨盘相连。
3.根据权利要求2所述的化学机械研磨装置,其特征在于:所述第二导管和所述抛光垫研磨盘相连。
4.根据权利要求1所述的化学机械研磨装置,其特征在于:所述阀门为空气阀门。
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