[发明专利]基于PXI总线的跳频性能检测插卡式结构模块有效

专利信息
申请号: 201110298722.6 申请日: 2011-09-28
公开(公告)号: CN102315890A 公开(公告)日: 2012-01-11
发明(设计)人: 吴成海;刘峰;董建明;王震;周正才;田甲;王继迎;曹维;邵敏庆 申请(专利权)人: 吴成海
主分类号: H04B17/00 分类号: H04B17/00;H04B1/713
代理公司: 武汉金堂专利事务所 42212 代理人: 胡清堂
地址: 430010 湖北省武汉市江岸区中山*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 基于 pxi 总线 性能 检测 卡式 结构 模块
【权利要求书】:

1.基于PXI总线的跳频性能检测插卡式结构模块,由模数转换单元⑴、信号处理单元⑵、跳频检测单元⑶和PXI总线接口单元⑷连同外设的插卡E5,相连接构成一个整体模块,其特征是:

所述模数转换单元⑴又包含有一个衰减器组Z和一个宽带ADC转换器E1,且E1的3组输出端A1.0~A1.9,B1.0~B1.9和C1.0~C1.9并依次分别与信号处理单元⑵中的FPGA大规模可编程门阵列E2的3组输入端P1.0~P1.9,P2.0~P2.9和P3.0~P3.9相对应连接。

2.如权利要求1所述的基于PXI总线的跳频性能检测插卡式结构模块,其特征是:

所述信号处理单元⑵又包含有一个2GB的DDR存储器和一个FPGA大规模可编程门阵列E2,且E2设置有4组输出端口,即P4.0~P4.31,P5.0~P5.23,P6.0~P6.29和P7.0~P7.31。

3.如权利要求1所述的基于PXI总线的跳频性能检测插卡式结构模块,其特征是:

所述信号处理单元⑵中FPGA大规模可编程门阵列E2的2组输出端P4.0~P4.31和P5.0~P5.23依次分别与跳频检测单元⑶中的DSP跳频信号处理器E3的2组输出端D0~D31和ADD0~ADD23相对应连接。

4.如权利要求1所述的基于PXI总线的跳频性能检测插卡式结构模块,其特征是:

所述信号处理单元⑵中FPGA大规模可编程门阵列E2的2组输出端P6.0~P6.29和P7.0~P7.31依次分别与PXI总线接口单元⑷中的PXI接口芯片E4的2组输入端LA2~LA31和LD0~LD31相对应连接。

5.如权利要求1所述的基于PXI总线的跳频性能检测插卡式结构模块,其特征是:

所述PXI总线接口单元⑷中PXI接口芯片E4的输出端口外设有插卡E5,继而与PXI总线相连接。

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