[发明专利]光源驱动电路温控性能检测装置有效
申请号: | 201110300792.0 | 申请日: | 2011-09-29 |
公开(公告)号: | CN102364405A | 公开(公告)日: | 2012-02-29 |
发明(设计)人: | 李立京;李慧;杨慧;李勤;许文渊;尚静;张晞;李彦 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G05B23/02 | 分类号: | G05B23/02 |
代理公司: | 北京远大卓悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11369 | 代理人: | 史霞 |
地址: | 100191 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 光源 驱动 电路 温控 性能 检测 装置 | ||
1.一种光源驱动电路温控性能检测装置,其特征在于,包括:
处理模块(10),用于模拟环境温度变化和模拟光源内部热电制 冷器功能;
转换模块(30),分别与所述处理模块(10)、光源驱动电路的两 个温控电流输出端连接,用于将温控电流转换为电压并输送给处理模 块(10);
比较模块(20),具有两个输入端和一个输出端,两个输入端均 与所述处理模块(10)连接,其中一个输入端接收处理模块(10)产 生的模拟环境温度变化的信号,另一个输入端接收处理模块(10)根 据所述温控电流转换成的电压模拟的光源内部加热制冷状态的信号, 通过两个输入端接收的信号的比较以控制输出电压的变化,并将输出 电压经输出端输送给光源驱动电路以及送回处理模块(10);
所述处理模块(10)将比较模块(20)输出电压的初值与所述送 回的电压进行比较以判断光源驱动电路温控性能的好坏。
2.如权利要求1所述的光源驱动电路温控性能检测装置,其特 征在于,还包括:
显示模块(40),与所述处理模块(10)连接,用于显示光源驱 动电路温控性能的好坏。
3.如权利要求1所述的光源驱动电路温控性能检测装置,其特 征在于,所述处理模块(10)为FPGA芯片(11),与所述比较模块 (20)的两个输入端之间分别设有数模转换器D/A(12,14),与所 述转换模块(30)的输出端之间设有模数转换器A/D(13),与所述 比较模块(20)的输出端之间设有模数转换器A/D(15)。
4.如权利要求3所述的光源驱动电路温控性能检测装置,其特 征在于,所述处理模块(10)为DSP芯片。
5.如权利要求3所述的光源驱动电路温控性能检测装置,其特 征在于,所述处理模块(10)为单片机。
6.如权利要求1所述的光源驱动电路温控性能检测装置,其特 征在于,所述转换模块(30)为但不限于:电流型运放(31)。
7.如权利要求1所述的光源驱动电路温控性能检测装置,其特 征在于,所述比较模块(20)为但不限于:减法运算放大器或加法运 算放大器或加减法运算放大器。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航空航天大学,未经北京航空航天大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110300792.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。