[发明专利]检测中压开关柜故障的传感器无效

专利信息
申请号: 201110303777.1 申请日: 2011-10-10
公开(公告)号: CN102364349A 公开(公告)日: 2012-02-29
发明(设计)人: 吴伟 申请(专利权)人: 上海莫克电子技术有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 刘计成
地址: 201203 上海市浦东新区*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 检测 开关柜 故障 传感器
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种传感器,特别涉及一种用来检测中压开关柜故障的传感器。

背景技术

中压开关柜是使用极广且数量最多的开关设备,但由于在设计、制造、安 装和运行维护等方面存在着不同程度的问题,因而事故率比较高,在诸多性质 的开关柜事故中,绝缘事故多发生于10千伏及以上电压等级,造成的后果也会 特别严重。特别是封闭式开关柜绝缘事故率更高,而且往往一台出现事故还会 殃及邻柜,进而会造成更大的事故。因此迫切需要对开关柜实设备运行状况进 行实时和定时的在线监测,根据设备的运行状态和绝缘的劣化程度,确定检修 时问和措施,以减少停电时间和事故的发生,提高电力系统运行的安全可靠性 及自动化程度。

传统监测的方法主要是通过安装温度传感器来监测中压开关柜内的温度, 因为如果中压开关柜内发生故障进行放电的时候有可能会引起设备发热,但对 于一些隐蔽性故障来说,发电时往往不能引起设备发热,因此采用这温度传感 器不能很好的发现一些隐蔽的故障,故安装温度传感器并不能起到很好的检测 效果。

发明内容

针对上述现有技术的不足,本发明的目的是提供一种可对中压开关柜故障 起到更好检测效果的传感器。

为解决上述技术问题,本发明采用如下技术方案:

一种检测中压开关柜故障的传感器,其包括一绝缘材料的外壳,所述外壳 内设有一检测电磁波信号的天线,所述天线接收信号的范围为300MHz-3000MHz, 所述天线的信号线伸出所述外壳。

优选的,所述外壳通过第一旋转手柄与一支架铰接,所述支架通过第二旋 转手柄与一底座铰接。

优选的,所述底座上设有磁铁。

优选的,所述信号线伸出所述外壳的一端与N-TYPE连接头连接。

优选的,所述外壳的材料为PE材料。 上述技术方案具有如下有益效果:由于中压开关柜发生故障发电时会产生电磁 波,且电磁波的频率范围在300MHZ以上,该传感器在外壳内设置一可接收信号 范围在300MHz-3000MHz的天线,这样当传感器安装在中压开关柜内,中压开关 柜出现放电故障时,其产生的电磁波将会被穿过外壳被天线感应,天线发出感 应信号,这样即可判定中高压开关柜内发生了故障,从而便于中压开关柜设备 的检修,由于中压开关柜发生故障时一般都会产生相应的电磁波,因此这种传 感器对中压开关柜故障的检测精确率更高。

附图说明

图1为本发明实施例的主视图。

图2为本发明实施例的测试图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的优选实施例进行详细介绍。

如图1、2所示,该检测中压开关柜故障的传感器包括一绝缘材料的外壳1, 绝缘材料可选用PE材料、塑料或其他绝缘材料。外壳1内设有一检测电磁波信 号的天线2,天线接收信号的范围为300MHz-3000MHz,天线2信号线的一端伸 出外壳1与N-TYPE连接头3连接。外壳1通过第一旋转手柄5与一支架4铰接, 支架4通过第二旋转手柄7与一底座6铰接,底座6的底部设有磁铁。第一旋 转手柄5横向布置,第二旋转手柄7纵向布置。

该传感器在使用时,可通过底座6底部的磁铁直接固定在中压开关柜上, 同时分别调节第一旋转手柄5、第二旋转手柄7,使天线2可以正对检测源,这 样可起到更好的检测效果。由于中压开关柜发生故障发电时会产生电磁波,且 电磁波的频率范围在300MHZ以上,因此当中压开关柜出现放电故障时,其产生 的电磁波将会被穿过外壳1被天线2感应,天线2发出感应信号,感应信号通 过信号线、N-TYPE接头3传送给相应的电信号处理装置,进行信号处理,再利 用诊断程序分析局部放电种类和杂波进行确认,这样即可判断中压开关柜设备 内部的故障情况及类型。

由于中压开关柜发生故障时一般都会产生相应的电磁波,因此这种传感器 对中压开关柜故障的检测精确率更高。同时该传感器还可以用来监测电力设备 中环境中的干扰信号,如高压开关周围或变压器周围的干扰信号,如电视,广 播,马达,电晕,手机,雷达等各种干扰信号,在监测高压开关和变压器的放 电信号时候,用于比对信号。

以上对本发明实施例所提供的一种检测中压开关柜故障的传感器进行了详 细介绍,对于本领域的一般技术人员,依据本发明实施例的思想,在具体实施 方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本 发明的限制,凡依本发明设计思想所做的任何改变都在本发明的保护范围之内。

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