[发明专利]光学位置测量装置有效

专利信息
申请号: 201110304952.9 申请日: 2011-10-10
公开(公告)号: CN102455192A 公开(公告)日: 2012-05-16
发明(设计)人: 拉尔夫·约尔格尔;米夏埃尔·赫尔曼;沃尔夫冈·霍尔扎普费尔;沃尔特·胡贝尔 申请(专利权)人: 约翰尼斯海登海恩博士股份有限公司
主分类号: G01D5/38 分类号: G01D5/38
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 余刚;李慧
地址: 德国特劳*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 光学 位置 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种光学位置测量装置,具有:扫描杆(A)和测量杆(M),其中所述扫描杆(A)在两个方向(X,Y)中的第一或第二方向上延伸并且所述测量杆(M)在所述两个方向(X,Y)中的分别另一方向上延伸,和其中所述测量杆(M)在垂直于所述第一和第二方向(X,Y)的第三方向(Z)上和所述扫描杆(A)间隔开扫描距离(d)偏移地布置;以及光源(LQ),所述光源的光线在所述扫描杆(A)和所述测量杆(M)的交叉点处穿过所述扫描杆(A),以便落到所述测量杆(M)上并从那里返回到达所述扫描杆(A)和继续到达探测器,其中光线在所述扫描杆(A)和所述测量杆(M)的起光学作用的结构(O1,O2,O3,O4,O5)处通过衍射分离成不同的部分光线(A1,A2,B1,B2)并再次汇合,其中通过相互汇合的部分光线(A1,A2,B1,B2)的干涉,当在所述第一方向(X)上在所述扫描杆(A)和所述测量杆(M)之间移动时,产生周期性的探测器信号,其特征在于,即使当所述扫描杆(A)和所述测量杆(M)之间的所述扫描距离(d)改变时也产生所述周期性的探测器信号。

2.根据权利要求1所述的光学位置测量装置,其特征在于,当在所述第二方向(Y)上在所述扫描杆(A)和所述测量杆(M)之间移动时,所述探测器信号保持不变。

3.根据权利要求1所述的光学位置测量装置,其特征在于,所述部分光线(A1,A2,B1,B2)形成组(A,B),其中第一组(A)的所述部分光线(A1,A2)和第二组(B)的所述部分光线(B1,B2)相互之间具有取决于所述扫描距离(d)的相位差。

4.根据权利要求3所述的光学位置测量装置,其特征在于,所述相位差对于一个特定的扫描距离(d)来说消失。

5.根据权利要求4所述的光学位置测量装置,其特征在于,在各个组(A,B)内的分别一个部分光线(A1,B1)经过在所述测量杆(M)或所述扫描杆(A)的透明的基底内部的一个附加的路段。

6.根据权利要求3所述的光学位置测量装置,其特征在于,所述第一组(A)的所述部分光线(A1,A2)和所述第二组(B)的所述部分光线(B1,B2)相对于垂直于所述第一方向(X)的平面镜像对称。

7.根据权利要求3所述的光学位置测量装置,其特征在于,所述第一组(A)的所述部分光线(A1,A2)和所述第二组(B)的所述部分光线(B1,B2)分别相互之间具有相对于垂直于所述第一方向(X)的平面的不对称的走势。

8.根据权利要求3所述的光学位置测量装置,其特征在于,所述部分光线(A1,A2,B1,B2)经历逆向反射。

9.根据权利要求8所述的光学位置测量装置,其特征在于,所述部分光线(A1,A2,B1,B2)在逆向反射之前和之后平行走向。

10.根据权利要求8所述的光学位置测量装置,其特征在于,借助于至少一个绕射的透镜(O4,O5)和一个镜面(O2)进行逆向反射。

11.根据权利要求3所述的光学位置测量装置,其特征在于,由各个组(A,B)的干涉的部分光线(A1,A2,B1,B2)中分别产生相对彼此相移的探测器信号,其中通过所述第一组(A)和所述第二组(B)的所述探测器信号的不同组合,一方面可以测定在所述第一方向(X)上在所述扫描杆(A)和所述测量杆(M)之间的移动并且另一方面可以测定所述扫描距离(d)的变化。

12.根据权利要求1所述的光学位置测量装置,其特征在于,在所述扫描杆(A)上的所述光学结构(O1,O2,O3,O4,O5)在所述第一方向(X)方面是周期性的或平移不变的。

13.根据权利要求1所述的光学位置测量装置,其特征在于,在所述测量杆(M)上的所述光学结构(O1,O2,O3,O4,O5)在所述第二方向(Y)方面是周期性的或平移不变的。

14.根据权利要求1所述的光学位置测量装置,其特征在于,在所述扫描杆(A)上或在所述测量杆(M)上的所述光学结构(O1,O2,O3,O4,O5)局部地最大具有两个周期。

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