[发明专利]一种生产Φ6英寸区熔气掺硅单晶的热系统及工艺有效
申请号: | 201110306527.3 | 申请日: | 2011-10-11 |
公开(公告)号: | CN102358951A | 公开(公告)日: | 2012-02-22 |
发明(设计)人: | 高树良;张雪囡;王彦君;靳立辉;康冬辉;王遵义;李建弘;沈浩平 | 申请(专利权)人: | 天津市环欧半导体材料技术有限公司 |
主分类号: | C30B13/20 | 分类号: | C30B13/20;C30B29/06 |
代理公司: | 天津中环专利商标代理有限公司 12105 | 代理人: | 王凤英 |
地址: | 300384 天津市西青*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 生产 英寸 区熔气掺硅单晶 系统 工艺 | ||
技术领域
本发明涉及硅单晶的生产方法,特别涉及一种生产Φ6英寸区熔气掺硅单晶的热系统及工艺。
背景技术
半导体器件厂家出于提高生产率、降低成本、增加利润等方面的考虑,都逐步要求增大硅片的直径,大直径化是半导体器件行业和材料行业的永恒课题。但是在区熔硅单晶的生产过程中,随着单晶直径的增大,其成晶也越来越困难。
拉制区熔直径单晶,由于单晶中心处散热较慢,边缘散热较快,所以单晶固液界面为下凹的碗状。单晶边缘先于中心凝固,当中心处凝固时体积膨胀,会产内部应力。一旦应力大于硅单晶的弹性极限,则会产生位错断苞。在拉制大直径硅单晶时问题尤为突出,由于直径较大,单晶内外散热速度差别更大,中心凝固结晶时产生的应力也更大,更容易产生位错断苞。单晶在生长过程中,一旦碰到杂质颗粒,很容易产生新的晶核而变成多晶。对单晶进行掺杂,即为向单晶晶格内部引入杂质原子,增加了断苞的风险。要成功拉制大直径掺杂单晶,对热场提出了更高要求。
现有技术下的区熔硅单晶的最大尺寸为Φ5英寸或Φ6英寸。
发明内容
本发明的目的在于提供一种生产Φ6英寸区熔气掺硅单晶的热系统及工艺。
为达到以上目的,需对热系统进行调整,使单晶内部和外部的凝固更为同步,以降低应力导致断苞的概率。
增加保温筒的高度至100mm左右,直径增加至350±50mm,与线圈间距离降低至100±50mm,增强了其保温效果,可以减缓单晶外部的冷却速率,从而使单晶内外凝固结晶较为同步,降低产生的热应力。
等径过程中,降低下轴转速至3~5rpm;扩肩过程中,降低下轴转速至7~10rpm。两者都可以降低单晶与周围气氛的相对运动,也可以减缓单晶外部的冷却速率,从而使单晶内外凝固结晶较为同步,降低产生的热应力。
扩肩时选择缓慢扩肩,使扩肩角度为40°±2°,也可以使单晶内部和边缘的凝固结晶较为同步,降低热应力产生的概率。
由于单晶冷却速率降低了,所以对硅单晶相变潜热的释放能力也降低了,需要适当降低下轴的下降速度,经多次试验,下降速度降至3~4mm/min较为适宜。
单晶直径尺寸增加,单位时间需要的硅熔体供应也相应增加,那么需要增加线圈发生器的功率以熔化更多的多晶硅。通过试验,线圈发生器功率为其额定功率的60%~70%可以满足生产的要求。
选择外径为Φ350±50mm,内径为Φ50±2mm,厚度为30±2mm,上表面为上表面为倾斜多台阶线圈,则可以使电磁场的分布以及对多晶料棒的加热更加均匀,防止“出刺”问题。
本发明所采取的技术方案是:一种生产Φ6英寸区熔气掺硅单晶的热系统,包括线圈和保温筒,其特征在于:所述线圈上表面为倾斜多台阶线圈,线圈外径为Φ350±50mm,内径为Φ50±2mm,厚度为30±2mm。
所述保温筒直径为Φ350±50mm,高度为100±20mm。
所述线圈与保温筒的距离为100±50mm。
一种生产Φ6英寸区熔气掺硅单晶的工艺,其特征在于:在扩肩过程中向炉室内通入掺杂气体,下轴转速为7~10rpm,扩肩角度为40°±2°;在等径生长过程中,下轴下降速度约为3~4mm/min,下轴转速为3~5rpm,线圈发生器功率为其额定功率的60%~70%。
本发明所产生的有益效果是:通过采用新设计的热系统及调整了工艺参数,可以成功拉制出Φ6英寸区熔气掺硅单晶,解决了大直径区熔气掺硅单晶在生产过程容易产生位错断苞及“出刺”问题,从而满足市场对大直径硅单晶的需求。
附图说明
图1为生产Φ6英寸区熔气掺硅单晶的热系统结构示意图。
具体实施方式
以下结合实施例和附图对本发明作进一步说明。参照图1,一种生产Φ6英寸区熔气掺硅单晶的热系统包括线圈1和保温筒2,线圈1上表面为倾斜多台阶线圈,线圈1外径为Φ300mm,内径为Φ50mm,厚度为30mm。保温筒2直径为Φ300mm,高度为100mm。线圈1与保温筒2的距离为100mm。线圈1的冷却水水路3和保温筒2的冷却水水路4分别位于二者内部。
生产Φ6英寸区熔气掺硅单晶采用的设备为PVA FZ-30型,其工艺具体步骤如下:
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