[发明专利]光变防伪元件有效

专利信息
申请号: 201110307944.X 申请日: 2011-10-12
公开(公告)号: CN103050055A 公开(公告)日: 2013-04-17
发明(设计)人: 孙凯;朱军 申请(专利权)人: 中钞特种防伪科技有限公司;中国印钞造币总公司
主分类号: G09F3/02 分类号: G09F3/02;B44F1/12
代理公司: 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 代理人: 余朦;王艳春
地址: 100070 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 防伪 元件
【权利要求书】:

1.一种光变防伪元件,包括基材和形成于基材表面上的第一干涉区和第二干涉区,其特征在于,

第一干涉区包括第一反射层,第一介质层,以及第一吸收层;

第二干涉区包括第二反射层,第二介质层,以及第二吸收层;

其中,第一介质层的厚度和第二介质层的厚度不同,以使得在第一角度观测时,第一干涉区呈现第一颜色,第二干涉区呈现第二颜色,在第二角度观测时,第一干涉区呈现与第二颜色匹配的颜色,第二干涉区呈现与第一颜色匹配的颜色。

2.根据权利要求1所述的元件,其中,第一颜色和第二颜色为互补色。

3.根据权利要求1所述的元件,其中,第一角度为0-20°;第二角度为30-70°。

4.根据权利要求1所述的元件,其中,第一介质层和第二介质层由折射率小于1.7的材料制成。

5.根据权利要求4所述的元件,其中,第一介质层和第二介质层的材料选自MgF2、SiO2和Al2O3中的一种或多种。

6.根据权利要求5所述的元件,其中,当采用SiO2制成第一介质层和第二介质层时,第一介质层和第二介质层的厚度分别为510±20nm和615±20nm;当采用MgF2制成第一介质层和第二介质层时,第一介质层和第二介质层的厚度分别为540±20nm和650±20nm;当采用Al2O3制成第一介质层和第二介质层时,第一介质层和第二介质层的厚度分别为458±20nm和553±20nm。

7.根据权利要求4所述的元件,其中,第一介质层和第二介质层是透明的。

8.根据权利要求1所述的元件,其中,第一吸收层和第二吸收层由折射率和吸收系数的比值在0.8-1.2之间的材料制成。

9.根据权利要求8所述的元件,其中,第一吸收层和第二吸收层的材料选自Cr、Ni、Ti和Co中的一种或多种。

10.根据权利要求8所述的元件,其中,第一吸收层和第二吸收层的厚度为3-15nm。

11.根据权利要求1所述的元件,其中,反射层采用金属Al制成。

12.根据权利要求11所述的元件,其中,反射层厚度大于15nm。

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