[发明专利]GRIN光纤探针及其制作方法、聚焦性能检测装置和检测方法

权利要求书

1.一种GRIN光纤探针，包括一段单模光纤（203）、一段无芯光纤（204）和一段多模光纤（205），其特征是：所述单模光纤（203）、无芯光纤（204）和多模光纤（205）依次连接成一体构成超小光学探头。

2.一种根据权利要求1所述的GRIN光纤探针的制作方法，其特征在于制作步骤如下：

（1）单模光纤（203）一端装配FC/APC标准接口，一端与无芯光纤（204）焊接在一起；

（2）把焊接后的单模光纤（203）和无芯光纤（204）放到专用光纤切割机上，借助于显微镜进行无芯光纤（204）切割，使其保留至预设长度；

（3）采取与步骤（1）-（2）相同的步骤，把无芯光纤（204）与多模光纤（205）焊接在一起，并切割多模光纤（205）至预设长度，完成GRIN光纤探针（104）的制作；

以上步骤中用到的光纤焊接机采用日本古河电器工业株式会社制造商生产的型号为S117A的Fusion Splicer熔接机，光纤切割机采用美国PK Technology制造商生产的型号为FKⅡ-4的Fiber Cleaver切割机，显微镜（201）采用中国上海宙山精密光学仪器有限公司生产的型号为XTL-2400的体视显微镜。

3.一种GRIN光纤探针的聚焦性能检测装置，用于检测根据权利要求1所述的GRIN光纤探针，包括光源（101）、光纤（102）、探针夹具（103）、GRIN光纤探针（104）、显微物镜（106）、光导管（107）、CCD （108）和计算机（109），其特征是：所述光源（101）发出的光束经光纤（102）接到GRIN光纤探针（104）进口，GRIN光纤探针（104）由探针夹具（103）夹持定位，使其出口对准显微物镜（106），显微物镜（106）经光导管（107）连接CCD（108），CCD（108）的输出连接到计算机（109）。

4.一种根据权利要求1所述的GRIN光纤探针的聚焦性能的检测方法，采用根据权利要求3所述的GRIN光纤探针的聚焦性能检测装置进行检测，其特征是：把GRIN光纤探针（104）固定于探针夹具（103）上，有FC/APC接口的一端连接光源（101），另一端正对显微物镜（106），光源发出高斯光束，该光束通过GRIN光纤探针（104）聚焦后由显微物镜（106）进行光束尺寸放大，并通过光导管（107）后由CCD（108）进行图像采集，最后在计算机（109）中分析和判断束腰位置（105）距离探针输出面的长度以及束腰光斑大小。