[发明专利]用于操作电子束系统的方法和系统

权利要求书

1.一种方法，包括：

在成像系统中的X射线管中产生电子束；

识别对应于所述成像系统的特定视图的电流配置；

当所识别的电流配置在确定的范围内时，使用脉冲宽度调制来调制对于所述成像系统的特定视图的电子束的占空因数；以及

将所调制的电子束朝靶聚焦。

2.如权利要求1所述的方法，其中调制对于所述成像系统的特定视图的电子束的占空因数包括使所述占空因数适应性改变以便至少产生确定的X射线通量。

3.如权利要求2所述的方法，进一步包括确定对应于所述X射线管的操作设置用于产生所述确定的X射线通量、确定的焦斑大小、确定的焦斑位点或其组合，其中所述操作设置包括脉冲宽度、占空因数、频率、磁体电流、偏置电压、引出电压或其组合。

4.一种X射线管(300)的电子束系统，其包括：

产生电子束的发射器(312)；

关于所述发射器(312)维持在正偏置电压或负偏置电压的至少一个电极(326)，其中所述至少一个电极(326)控制所述电子束的强度；以及

耦合于所述至少一个电极(326)的控制单元(334)，其中所述控制单元(334)用于：

识别对应于所述X射线管(300)的特定视图的电流配置；以及

当所识别的电流配置在确定的范围内时，使用脉冲宽度调制来调制对于所述X射线管(300)的特定视图的电子束的占空因数。

5.如权利要求4所述的电子束系统，其中所述控制单元(334)改变对于所述X射线管(300)的特定视图的电子束的占空因数以便至少产生确定的X射线通量。

6.如权利要求4所述的电子束系统，其中所述发射器(312)配置成产生具有确定电流值的电子束。

7.如权利要求4所述的电子束系统，其中当所识别的电流配置在所述确定的范围外时，所述控制单元(334)选择连续聚焦调制用于调制对应于所述X射线管(300)的特定视图的电子束电流。

8.如权利要求4所述的电子束系统，进一步包括至少一个设置在所述发射器(312)附近的聚焦电极(324)，其中所述至少一个聚焦电极(324)将所述电子束聚焦，并且其中所述至少一个电极(326)是引出电极。

9.一种X射线管(300)，其包括：

电子束系统，其包括：

产生电子束的发射器(312)；

控制所述电子束的强度的至少一个电极(326)，其中所述至少一个电极(326)关于所述发射器(312)维持在正偏置电压或负偏置电压；

耦合于所述至少一个电极(326)的控制单元(334)，其中所述控制单元(334)用于：

识别对应于所述X射线管(300)的特定视图的电流配置；以及

当所识别的电流配置在确定的范围内时，使用脉冲宽度调制来调制所述X射线管(300)的特定视图的电子束的占空因数；以及

当由所述电子束撞击时产生X射线的靶。

10.一种计算机断层摄影系统(100)，其包括：

机架(102)；

X射线管(300)，其包括：

电子束系统，其包括：

产生电子束的发射器(312)；

控制所述电子束的强度的至少一个电极(326)，其中所述至少一个电极(326)关于所述发射器(312)维持在正偏置电压或负偏置电压；

耦合于所述至少一个电极(326)的控制单元(334)，其中所述控制单元(334)用于：

识别对应于所述计算机断层摄影系统的特定视图的电流配置；以及

当所识别的电流配置在确定的范围内时，使用脉冲宽度调制来调制对于所述计算机断层摄影系统的特定视图的电子束的占空因数；

当由所述电子束撞击时产生X射线的靶(306)；以及用于检测来自对象的衰减电子束的一个或多个检测器元件(202)。