[发明专利]温度测量装置

权利要求书

1.一种温度测量装置，其特征在于，

该温度测量装置具有温度测量部、运算部以及控制所述温度测量部和所述运算部的动作的控制部，

所述温度测量部具有：

作为热介质的基材，其具有作为与被测量体接触的接触面的第1面；

第1温度传感器，其测量所述基材的第1测量点处的温度作为第1温度；

第2温度传感器，其测量所述基材的与所述第1测量点不同的第2测量点处的温度作为第2温度；以及

第3温度传感器，其测量所述基材的与所述第1测量点和所述第2测量点不同的第3测量点处的温度作为第3温度，该第3温度是代用作所述基材的周围的环境温度的温度，

所述第1测量点、所述第2测量点以及所述第3测量点位于所述基材的外表面上或者所述基材的内部，

所述第1温度传感器、所述第2温度传感器以及所述第3温度传感器在所述环境温度不同的条件下，多次测量所述第1温度、所述第2温度以及所述第3温度，

所述运算部根据通过所述多次测量而得到的所述第1温度、所述第2温度以及所述第3温度，基于深部温度的运算式，求出远离所述第1面的、所述被测量体的深部的深部温度。

2.根据权利要求1所述的温度测量装置，其特征在于，

所述控制部将所述第1温度、所述第2温度以及所述第3温度的测量时间段分割为多个时间段，使所述第1温度传感器和所述第2温度传感器按照每一个时间段以预定间隔执行多次温度测量，

此外，所述运算部使用通过所述多次测量而得到的多个温度的测量数据进行平均运算，按照每一个时间段决定所述第1温度、所述第2温度以及所述第3温度，

所述运算部使用按照所述每一个时间段决定的所述第1温度、所述第2温度以及所述第3温度，执行基于所述深部温度的计算式的运算，求出所述被测量体的深部的深部温度。

3.根据权利要求1所述的温度测量装置，其特征在于，

该温度测量装置还具有能够改变所述环境温度的环境温度调整部，

所述控制部在使所述第1温度传感器、所述第2温度传感器以及所述第3温度传感器执行所述多次测量时，每当一次测量结束时，通过所述环境温度调整部改变所述环境温度。

4.根据权利要求1所述的温度测量装置，其特征在于，

该温度测量装置还具有定时控制信息输入部，该定时控制信息输入部输入定时控制信息，该定时控制信息决定所述第1温度传感器、所述第2温度传感器以及所述第3温度传感器执行所述多次测量的定时，

所述控制部每当从定时控制信息输入部输入所述定时控制信息时，使所述第1温度传感器、所述第2温度传感器以及所述第3温度传感器执行温度测量。

5.根据权利要求1～4中的任意一项所述的温度测量装置，其特征在于，

在通过设所述第2温度和所述第3温度为变量且包含多个常数的函数表示所述第1温度时，所述运算部根据测量出的所述第1温度、所述第2温度以及所述第3温度计算所述多个常数，通过使用了计算出的所述多个常数基于所述深部温度的计算式进行运算，计算所述被测量体的深部温度。