[发明专利]一种移动终端生产射频测试系统误差的计量装置和方法

说明书

技术领域

本发明涉及移动终端生产测试领域，具体涉及一种移动终端生产射频测试系统误差的计量装置和方法。

背景技术

随着无线通信发达越来越快，对移动终端射频性能的要求也越来越高，除了在产品研发阶段各器件的匹配调整、硬件线路的最优化调节之外，最主要的是在移动终端生产测试时通过一个校调工位来保证移动终端射频性能。生产测试会对校调工位的射频做一个综合测试，校调工位对射频器件的一致性、贴片、温度等方面导致的差异做补偿，使射频性能达到通信行业的标准。校调工位和综合测试是移动终端生产射频测试系统最关键的组成部分，如图1所示，移动终端生产测试系统包括测试设备、待测件、PC机及连接线缆，测试设备一般用综测仪，有的厂家也用信号源加频谱仪的方式，连接线缆有串口数据通信线缆，仪表控制通信线缆(GPIB总线、PXI总线或网线)及射频信号通讯线缆三种。

测试系统可靠性的关键因素有两方面，一方面是芯片的校调及测试算法，另一方面是测试系统的系统误差。芯片校调及测试算法一般都是根据芯片的规则及移动终端业界的测量方面而定，系统误差在测试系统中以线损的方式出现，在通讯通路上区分为上行链路线损和下行链路线损两部分。

目前的生产测试系统误差计量一般将一个特制的主板或终端(以下称为金机金板)作为基准来计量测试系统的线损，该金机金板的最大功率是预先测量出来的，系统误差一般通过线缆厂家的推荐值估算，测量设备(包括综测仪或频谱仪)可以测出金机金板发出信号的功率与金板设定的发射信号功率的差值，即系统的上行链路线损，作为测试系统的测试误差，现有的方法将测试系统的下行链路线损设置为与该上行链路线损一致。

在实际应用中上述计量系统误差方法表现出来的缺点是：

1.金机金板在制作时本身就存在一定的制作误差问题，系统线损采用的是一个估算值，并不准确；

2.金机金板本身在测量时，每次发射信号的功率都会存在一点差别，有波动，一致性不好；

3.测量设备本身有线路衰减，且实际情况中测试系统的上下行链路线损是不一致的，而现有的方法为了方便将两者设置为一致，忽略了上下行链路线损的不一致性。

综上，现有的移动终端生产射频测试系统误差的计量方法在系统精度上不准确，由于金机金板发射信号时就存在误差，使得测量设备不能准确地测出射频线路衰减以及测量设备本身的内部损耗，最终无法准确地计量测试系统的误差，面对目前市场上对移动终端射频性能越来越高的要求，这会影响产品的质量及可靠性。

发明内容

本发明需要解决的技术问题是提供一种移动终端生产射频测试系统误差的计量装置及方法，提高移动终端生产射频测试系统的精度、稳定性及可靠性。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种移动终端生产射频测试系统误差的计量装置，包括测试设备、输出模块，其特征在于：还包括信号源和功率计，其中，

所述信号源用于发射上行测试信号；

所述功率计与所述信号源相连，用于根据所述上行测试信号测量所述信号源的内部损耗；

所述测试设备与所述信号源相连，用于测量所述上行测试信号的线路损耗；

所述输出模块分别与所述功率计和所述测试设备相连，用于读取所述功率计的测量值和所述测试设备的测量值，将所述测试设备测量得到的所述上行测试信号的线路损耗与所述功率计测量得到的所述信号源的内部损耗的差值作为所述测试系统的上行链路线损输出。

进一步地，所述上行测试信号包括连续波(CW)脉冲信号。

进一步地，所述功率计用于测量信号源的内部损耗，包括：

所述功率计获取所述信号源设定的该上行测试信号功率为A，以及，测量所述信号源发射的该上行测试信号的实际功率值为B，将A-B作为所述信号源的内部损耗。

进一步地，所述测试设备用于测量所述上行测试信号的线路损耗，包括：

所述测试设备获取所述信号源设定的所述上行测试信号的功率为A，以及，测量所述信号源发射的所述上行测试信号的实际功率值为D，将A-D作为所述上行测试信号的线路损耗。

进一步地，所述测试设备还包括发射模块，用于发射下行测试信号；

所述功率计还与所述测试设备相连，用于测量所述下行测试信号的线路损耗；

所述输出模块，还用于读取所述功率计的测量值，将所述功率计测量得到的所述下行测试信号的线路损耗作为所述测试系统的下行链路线损输出。

进一步地，所述下行测试信号包括连续波(CW)脉冲信号。

进一步地，所述功率计用于测量所述下行测试信号的线路损耗，包括：