[发明专利]一种硅片预清洗工艺有效
申请号: | 201110314257.0 | 申请日: | 2011-10-17 |
公开(公告)号: | CN102368468A | 公开(公告)日: | 2012-03-07 |
发明(设计)人: | 王虎;靳建光;查达其;姚琪;陆波 | 申请(专利权)人: | 浙江贝盛光伏股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L31/18;B08B3/08 |
代理公司: | 湖州金卫知识产权代理事务所(普通合伙) 33232 | 代理人: | 裴金华 |
地址: | 313000 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 硅片 清洗 工艺 | ||
1.一种硅片预清洗工艺,其特征在于:包括以下步骤:
浸润处理,将硅片放入浸润液中,将浸润液加热至55~75℃,浸润200~600s;其中,浸润液中包括占其总体积2~6%的异丙醇和占其总体积2~8‰的表面活性剂;
一次冲洗,使用去离子水对浸润完成后的硅片进行冲洗,冲洗时间为100~300s,其中,去离子水的温度为40~70℃;
氧化处理,将一次冲洗后的硅片放入氧化液中,将氧化液加热至50~59℃,氧化200~500s,其中,氧化液为弱碱性溶液;
二次冲洗,使用去离子水对氧化处理后的硅片进行冲洗,冲洗时间为100~300s,其中,去离子水的温度为40~70℃。
2.根据权利要求1所述硅片预清洗工艺,其特征在于:步骤a中,所述表面活性剂包括有占其质量0.001%~3%的葡萄糖、葡萄糖酸钠或葡萄糖酸钾,100ppb~8000ppb的聚氧乙烯醚,0.001%~2%的乳酸钠或柠檬酸钠,0.001%~2%的丙二醇,0.01%~6%的硅酸钠,0.001%~2%的碳酸钠或碳酸氢钠,其余为水。
3.根据权利要求1所述硅片预清洗工艺,其特征在于:步骤c中,所述氧化液中包括有占其总体积2~5%的氨水、占其总体积3~8%的过氧化氢。
4.根据权利要求1所述硅片预清洗工艺,其特征在于:浸润时浸润液中设置并开启有超声装置,所述超声装置的超声波频率为20~30KHZ。
5.根据权利要求1所述硅片预清洗工艺,其特征在于:浸润时浸润液中设置并开启有超声装置,所述超声装置的超声波的频率为30~40KHZ。
6.根据权利要求1所述硅片预清洗工艺,其特征在于:步骤a中,初始浸润液配制200~300L,每清洗2000片硅片,在浸润液中补加异丙醇2~10L,补加添加剂30~100ml。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造