[发明专利]触控装置结构及其制造方法

说明书

技术领域

本发明涉及触控技术，特别是一种触控装置结构及其制造方法。

背景技术

电子装置包括输出与输入装置介面，以提供人与电子装置的互动。在输入装置介面方面，因为电子材料的快速发展，触控式输入装置介面已成为目前的主流。传统的按键式输入装置，在未来都可能被触控式输入装置所取代。用以达到触控输入功能的触控装置可以分为电阻式与电容式、电感式、声波式、光学式等。然，前述不同的触控装置在使用时，均容易受到外界的信号干扰而产生误操作。

请参照图1，为传统的触控电路的平面透视图。如图1所示，传统的触控装置1主要包括感测电极结构12与周边连接线13。感测电极结构12所涵盖的区域定义为触控区域，用以感测使用者的触控操作。周边连接线13电性连接感测电极结构12，且周边连接线13也电性连接至外部的检测电路(未图示)。

当人手(或其他导电体)碰到触控装置1时，触控装置的感测电极结构12由于人手的触碰产生电容变化并经由周边连接线13而将感测电极结构12所产生的电容变化传递至外部的检测电路。检测电路可以检测到该电容变化而计算出人手所碰到的座标。然而，该电容变化也很容易受到外部的讯号干扰等因素，而导致所述电容变化发生不正常改变，从而造成触控装置的误动作。特别是当人手因持握或误碰触控装置1的周边连接线13所在的区域时，周边连接线13本身亦会产生干扰电容变化而干扰到周边连接线13从感测电极结构12所接收的电容变化，该干扰电容变化将与感测电极结构12上产生的电容变化一并输出至外部的检测电路，因此，外部的检测电路将不能准确地检测出感测电极结构12上产生的电容变化以及产生电容变化的位置。如图2所示，当人手碰到A点的位置时，有可能因为上述或其他干扰，而使得上述传统的触控装置1之检测电路可能误判被人手所碰到的位置为B点。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种触控装置结构，利用设置于复数个周边连接线处的屏蔽层，配合接地接触线，可以屏蔽讯号的干扰等因素所造成的误动作，并借此提高触控装置结构的灵敏度与准确性。

根据上述的目的，本发明提供一种触控装置结构，其包括感测电极结构、屏蔽层、复数个周边连接线与接地接触线。屏蔽层包围感测电极结构之周边。复数个周边连接线位于所述屏蔽层下方，且电性连接感测电极结构。接地接触线电性连接屏蔽层。

本发明提供一种触控装置结构的制造方法，其包括以下步骤。首先，形成感测电极结构。然后，形成屏蔽层，使屏蔽层包围感测电极结构之周边。接着，形成复数个周边连接线于所述屏蔽层下方，使复数个周边连接线电性连接感测电极结构。再来，形成接地接触线，使接地接触线电性连接屏蔽层。

综上所述，本发明所提供的触控装置结构及其制造方法可以屏蔽讯号干扰，避免误操作的产生，藉此提升触控电路运作的可靠性。

附图说明

下面结合具体实施方式及附图，对本发明作进一步详细说明。

图1为传统的触控电路的平面透视图。

图2为传统的触控电路之误动作的示意图。

图3为本发明实施例之触控装置结构的剖面图。

图4为本发明实施例之触控装置结构的另一实施例的剖面图。

图5为本发明实施例之触控装置结构之绝缘层的示意图。

图6为本发明实施例之触控装置结构的剖面图。

图7A为本发明实施例之触控装置结构之导电图形与屏蔽层的示意图。

图7B为本发明实施例之触控装置结构之第一绝缘图形与第二绝缘图形的示意图。

图7C为本发明实施例之触控装置结构之复数个导电跨线、复数个周边连接线与接地接触线的示意图。

图7D为本发明实施例之触控装置结构的平面透视图。

图8A为本发明另一实施例之触控装置结构的剖面图。

图8B为本发明另一实施例之触控装置结构之第一轴向导电图形与屏蔽层的示意图。

图8C为本发明另一实施例之触控装置结构之第一绝缘图形与第二绝缘图形的示意图。

图8D为本发明另一实施例之触控装置结构之第二轴向导电图形、复数个周边连接线与接地接触线的示意图。

图8E为本发明另一实施例之触控装置结构的平面透视图。

图9为本发明实施例之触控装置结构的制造方法的流程图。

图10为本发明实施例之触控装置结构的制造方法的流程图。

图11为本发明另一实施例之触控装置结构的制造方法的流程图。

具体实施方式