[发明专利]尺寸检测装置及方法无效
申请号: | 201110318173.4 | 申请日: | 2011-10-19 |
公开(公告)号: | CN103063139A | 公开(公告)日: | 2013-04-24 |
发明(设计)人: | 王光建 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 尺寸 检测 装置 方法 | ||
1.一种尺寸检测装置,其特征在于,该尺寸检测装置包括:
一存储单元,用于存储待测物件的标准影像;
一处理单元,用于获取待测物件不同角度的拍摄影像及该标准影像,分别计算并比较该些拍摄影像中每一像素块与相应的标准影像中对应的像素块在RGB三通道上IAED差异值的绝对值、该些拍摄影像与相应的标准影像在RGB三通道上IAED的平均差值的绝对值及产生的阈值系数,从而判断该些拍摄影像与相应的标准影像是否存在差异,其中IAED表示影像平均能量密度,当该处理单元判断该些拍摄影像与相应的标准影像均不存在差异时,则判断待测物件尺寸检测合格;当该处理单元判断至少一拍摄影像与相应的标准影像存在差异时,则判断待测物件尺寸检测不合格。
2.如权利要求1所述的尺寸检测装置,其特征在于,该待测物件不同角度的拍摄影像包括一从待测物件正上方拍摄的包括待测物件长度和宽度尺寸信息的拍摄影像,以及四个从待测物件的中心分别向上、下、左、右四个方向移动特定距离拍摄的包括待测物件高度尺寸信息的拍摄影像。
3.如权利要求1所述的尺寸检测装置,其特征在于,该待测物件不同角度的拍摄影像在比较前,先经过定位处理,其中,该定位处理为根据拍摄影像中待测物件的边角的亚像素坐标及标准影像中该些边角的标准坐标计算该些拍摄影像的每一个像素点的影像定位坐标,并根据每一个像素点的影像定位坐标将每一个像素重新影射产生待测物件经过定位后的拍摄影像。
4.如权利要求1所述的尺寸检测装置,其特征在于,所述待测物件不同角度的拍摄影像为该待测物件经一激光定位装置定位后拍摄的拍摄影像。
5.如权利要求1所述的尺寸检测装置,其特征在于,所述尺寸检测装置还包括一显示单元,该处理单元还用于将该判断结果显示在该显示单元上。
6.一种尺寸检测方法,其特征在于,该方法包括:
获取待测物件不同角度的拍摄影像及该标准影像;
分别计算并比较该些拍摄影像中每一像素块与相应的标准影像中对应的像素块在RGB三通道上IAED差异值的绝对值、该些拍摄影像与相应的标准影像在RGB三通道上IAED的平均差值的绝对值及产生的阈值系数,其中IAED表示影像平均能量密度;
根据上述计算和比对结果判断该些拍摄影像与相应的标准影像是否存在差异,当该些拍摄影像与相应的标准影像均不存在差异时,则判断待测物件尺寸检测合格;当至少一拍摄影像与相应的标准影像存在差异时,则判断待测物件尺寸检测不合格。
7.如权利要求6所述的尺寸检测方法,其特征在于,该待测物件不同角度的拍摄影像包括一从待测物件正上方拍摄的包括待测物件长度和宽度尺寸信息的拍摄影像,以及四个从待测物件的中心分别向上、下、左、右四个方向移动特定距离拍摄的包括待测物件高度尺寸信息的拍摄影像。
8.如权利要求6所述的尺寸检测方法,其特征在于,该待测物件不同角度的拍摄影像在比较前,先经过定位处理,其中,该定位处理为根据拍摄影像中待测物件的边角的亚像素坐标及标准影像中该些边角的标准坐标计算该些拍摄影像的每一个像素点的影像定位坐标,并根据每一个像素点的影像定位坐标将每一个像素重新影射产生待测物件经过定位后的拍摄影像。
9.如权利要求6所述的尺寸检测方法,其特征在于,所述待测物件不同角度的拍摄影像为该待测物件经一激光定位装置定位后拍摄的拍摄影像。
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