[发明专利]一种颗粒介质等效力学参数测量系统

权利要求书

1.一种颗粒介质等效力学参数测量系统，包括容纳颗粒介质的刚性 开口容器，其特征在于：所述刚性开口容器的容腔的形状为长方体；在 所述容腔的侧壁上设置有压力传感器和位移传感器；在所述容腔内活动 设置有颗粒介质压力传递部件，所述颗粒介质压力传递部件的一侧与所 述压力传感器和所述位移传感器触压，所述颗粒介质压力传递部件的另 一侧的所述容腔的空间容纳所述颗粒介质；还包括容积调节板，所述容 积调节板调整容纳所述颗粒介质的空间的容积。

2.根据权利要求1所述颗粒介质等效力学参数测量系统，其特征在 于：所述容积调节板为矩形板。

3.根据权利要求2所述颗粒介质等效力学参数测量系统，其特征在 于：所述调节板的数量至少为4。

4.根据权利要求3所述颗粒介质等效力学参数测量系统，其特征在 于：所述压力传感器的数量为4，所述位移传感器的数量为1。

5.根据权利要求4所述颗粒介质等效力学参数测量系统，其特征在 于：所述位移传感器和所述压力传感器设置在同一所述容器的侧壁上， 所述位移传感器的轴线与所述容腔的侧壁的中心相交，所述4个压力传 感器的连线在所述容腔的侧壁上形成矩形，所述容腔的侧壁的中心与所 述压力传感器形成的矩形的中心重合。

6.根据权利要求5所述颗粒介质等效力学参数测量系统，其特征在 于：所述颗粒介质压力传递部件为矩形的压力传递板。

7.根据权利要求6所述颗粒介质等效力学参数测量系统，其特征在 于：所述压力传递板与所述容腔的底板接触的边缘上设置有滚轮或滚珠。

8.根据权利要求7所述颗粒介质等效力学参数测量系统，其特征在 于：所述压力传递板的边缘与所述容腔的侧壁之间为间隙配合。

9.根据权利要求8所述颗粒介质等效力学参数测量系统，其特征在 于：在所述刚性开口容器的开口处设置有盖压所述颗粒介质的加载盖板。

10.根据权利要求9所述颗粒介质等效力学参数测量系统，其特征 在于：还包括计算机，所述压力传感器和所述位移传感器均与所述计算 机电连接。