[发明专利]一种内存条测试装置及测试方法

权利要求书

1.一种内存条测试装置，包括一个用以放置被测内存条的内存条接口，其特征在于，还包括：一个测试控制单元以及一个功能测试单元；所述功能测试单元与所述内存条接口相连；所述测试控制单元与所述功能测试单元相连；所述测试控制单元用于进行内存条测试参数的配置、构建测试模型，以及测试过程控制。

2.如权利要求1所述的内存条测试装置，其特征在于，所述功能测试单元包括电源拉偏测试模块、内存压力测试模块、信号引出测试模块之中的至少一种。

3.如权利要求2所述的内存条测试装置，其特征在于，所述电源拉偏测试模块包括可调电源、上电时序控制电路和开关元件，其中，所述可调电源和所述开关元件相连接，用于向所述开关元件提供电源；所述上电时序控制电路用于输出开关信号给所述开关元件，所述开关信号根据设定的上电时序生成，用于控制所述开关元件的开通；所述可调电源通过所述开关元件输出拉偏电源，所述拉偏电源用于实现对需要拉偏电源的拉偏。

4.如权利要求2所述的内存条测试装置，其特征在于，所述内存压力测试模块通过读写性能参数与关键时序参数对内存条进行性能测试和访问时序余量测试。

5.如权利要求2所述的内存条测试装置，其特征在于，所述信号引出测试模块通过利用信号测试点对所需测试参数进行引出，并通过测试仪器对内存条接口上关键的信号和所有电源的情况进行测试，以及测试内存条是否符合接口规范和检测故障。

6.一种内存条测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

在内存条接口上安装被测内存条，并上电；

测试控制单元生成测试控制信息并将其传送到功能测试单元；

功能测试单元根据所述测试控制信息对内存条进行功能测试；

测试控制单元判断被测内存条测试结果，并输出测试报告。

7.如权利要求6所述的内存条测试方法，其特征在于，测试控制单元设置测试参数，并通过编程构建测试模型，生成测试控制信息，并将所述测试控制信息传送到功能测试单元。

8.如权利要求6或7所述的内存条测试方法，其特征在于，所述测试控制单元生成测试控制信息包括：电源拉偏测试信息、内存压力测试信息、信号引出测试信息3种测试信息中的至少一种；所述功能测试单元根据所述测试控制信息分别调用测试种类对应的电源拉偏测试模块、内存压力测试模块或信号引出测试模块对内存条进行功能测试。

9.如权利要求8所述的内存条测试方法，其特征在于，所述测试控制单元对电源拉偏测试模块配置的电源拉偏测试信息包括：电压波动参数与电压拉偏参数，所述电源拉偏测试模块的功能测试为利用所述电源拉偏测试信息对被测内存条进行电压稳定性测试。

10.如权利要求8所述的内存条测试方法，其特征在于，所述测试控制单元对内存压力测试模块配置的内存压力测试信息包括：读写性能参数与关键时序参数，所述内存压力测试模块的功能测试为利用内存压力测试信息对被测内存条进行性能测试和访问时序余量测试。

11.如权利要求8所述的内存条测试方法，其特征在于，所述测试控制单元对信号引出测试模块配置的信号引出测试信息包括：DDRn总线参数、I²C总线参数与电源参数，所述信号引出测试模块利用接收的信号引出测试信息通过信号引出测试点引出测试参数，再通过测试仪器对引出的参数进行信号逻辑分析。