[发明专利]一种飞机防滑刹车控制盒高加速应力筛选的方法有效

专利信息
申请号: 201110321618.4 申请日: 2011-10-20
公开(公告)号: CN102426313A 公开(公告)日: 2012-04-25
发明(设计)人: 乔建军;田广来;黄智;商海东;张谦;刘忠平 申请(专利权)人: 西安航空制动科技有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 西北工业大学专利中心 61204 代理人: 慕安荣
地址: 710075 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 飞机 防滑 刹车 控制 加速 应力 筛选 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及运输类飞机起落架控制系统的电子产品领域,具体是一种飞机防滑刹车控制盒的高加速应力筛选试验方法,在筛选过程中测试性能。

背景技术

高加速寿命/高加速应力筛选(国外称之为HALT/HASS试验方法)是提高电子产品研制质量,缩短研制时间的一种试验技术。筛选指将同一批电子产品安装在筛选试验设备中按照标准规定的条件进行试验,试验中出现故障的允许排故,未出现故障的电子产品通过了筛选试验,可以交付用户使用。可分为常规筛选和高加速应力筛选两种类型。高加速应力筛选的参数来源于高加速寿命试验的数据,而且针对改进的最终技术状态。这种试验不仅可以用2h的筛选替代常规80h的筛选,而且对故障的筛选度大于常规筛选,使用证明对电子产品而言,是一项对提高生产效率和制造质量有作用的试验技术。

高加速寿命试验(HALT)是逐步提高受试电子产品承受的高温、低温和振动条件,直至出现电子产品的高温、低温、振动工作应力极限,工作应力极限指分别逐步提高高温条件、低温条件温、振动条件的试验过程中,产品性能出现不合格,但降低环境条件时,产品的性能可以恢复,这时的环境条件分别称为该产品的高温工作应力极限、低温工作应力极限、振动工作应力极限。

受试产品的工作应力极限用于制定该产品的高加速应力筛选试验剖面。试验剖面是可靠性工程中的常用术语,指所施加的环境条件随时间历程的关系,见GJB899《可靠性鉴定和验收试验》等标准。本发明三个实施例的高加速应力筛选剖面示意图分别见图1、图2、图3。

高加速应力筛选剖面的高温要求、低温要求、振动要求分别根据高温工作应力极限、低温工作应力极限、振动工作应力极限制定。

国外采用美国通用汽车公司主编的GMW8287《高加速寿命、高加速应力筛选》制定受试产品的高加速应力筛选试验方法,但具体到受试产品的HALT/HASS试验方法作为企业级的绝密技术从不外泄。国外电子行业的产品筛选采用HASS方法和MIL-STD-2164《电子设备环境应力筛选方法》的筛选方法,MIL-STD-2164是一种常规筛选试验方法,两种方法并行。

国内目前仅仅采用GJB1032《电子产品环境应力筛选方法》中的方法进行筛选,GJB1032是MIL-STD-2164的等效标准,两个标准中的筛选要求相同,筛选所用的时间一般为80h。

国内北航可靠性工程研究所和中航工业301所研究HASS试验技术均已有10多年时间,由于国外近50年的技术保密,使国内用户和产品研制单位对这项技术缺乏认识,国家机关也未发布应用这项技术的标准或规定,所以在电子产品研制中未开发这项技术。HASS方法要求在三轴六自由度、温度变化速率大于60℃/min的可靠性强化试验台上进行试验,北航和301所都引进了这种设备,但仅限于试验技术研究。由于缺乏认识和缺少标准,所以从未进行过产品的HASS试验。

国内独资或三资企业约有70余家有HASS试验设备,但仅进行过可靠性强化试验(相当于HALT),根据强化试验结果中得到的故障隐患,完成同型号电子产品的故障纠正措施。从未进行过HASS试验,出厂产品还是按照GJB1032中规定的普通方法进行筛选。原因是国内有普通筛选标准,但没有颁布高加速应力筛选试验的标准,使研究和推广这项技术有难度。

高加速应力筛选试验方法和GJB1032、MIL-STD-2164的筛选方法区别见表1。

表1高加速应力筛选试验方法和GJB1032、MIL-STD-2164中常规方法的区别

目前国外电子产品的高加速应力筛选试验都是在非工作状态下进行的,仅仅施加环境应力而不施加工作应力的方法与使用状态不相符,因为在使用中产品是同时承受环境应力和工作应力的,采用这种传统方法试验得到的数据欠真实。

控制盒是飞机电防滑刹车系统中的控制单元,设计有起飞线刹车功能、着陆刹车过程中的防滑功能、着陆时的接地保护功能,着陆过程中左、右起落架机轮的轮间保护多种功能,任何一种功能不符合设计要求均为发生故障。

为了保证控制盒的可靠性和安全性要求,国际上采用高加速寿命试验技术激发控制盒的故障隐患,采用在高加速寿命试验中得到的工作应力极限制定控制盒的高加速应力筛选试验剖面,替代原来的普通筛选方法。由于国外的技术封锁,国内仅采用普通的筛选方法。所述的普通筛选方法对故障的筛选度低,漏检率高,并且筛选时间长达80h;未经过高加速寿命试验的产品其质量低于经过高加速寿命试验的产品。

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