[发明专利]一种自适应调节芯片工作电压的方法和系统在审

专利信息
申请号: 201110322622.2 申请日: 2011-10-21
公开(公告)号: CN103065671A 公开(公告)日: 2013-04-24
发明(设计)人: 季云建;丁杰;鲍东山 申请(专利权)人: 广东新岸线计算机系统芯片有限公司
主分类号: G11C7/24 分类号: G11C7/24
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100084 北京市海淀区中关村*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 自适应 调节 芯片 工作 电压 方法 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及集成电路制造及应用技术领域,具体涉及一种自适应调节芯片工作电压的方法和系统。

背景技术

随着芯片制程的不断提升,逐渐向更细微的工艺发展,例如,由80纳米向40纳米,甚至28纳米微缩,尤其在制程达到40纳米之后,作为半导体元件晶粒或品片基材的晶圆片(wafer)和晶圆片之间,芯片和芯片之间的差异越来越大,反映到实际系统上,不同的芯片需要的工作电压差异很大,有的也许可以在0.9V上可以工作,可是有的芯片确需要0.95V才可以正常工作。

为了解决这个问题,现有技术中通常采用下述方式:

1)整体提供芯片的工作电压到可以保证所有芯片都能工作的电压,以上面的例子来说即以0.95V作为wafer量产时的工作电压。

2)在芯片测试的时候,按工作电压对不同的芯片进行分类,以上面的例子来说即把0.9V和0.95V的芯片加以区分,按芯片特性使用。

很显然,第一种做法会让0.9V的芯片带来过大的功耗浪费,第二种做法会增加芯片的生产成本。

发明内容

有鉴于此,本发明所要解决的技术问题是提供一种自适应调节芯片工作电压的方法和系统,可根据芯片自身的物理特性确定芯片的工作电压。

本发明提供的一种自适应调节芯片工作电压的方法,包括:

分别检测得到各芯片的漏电流值;

保存所测得的漏电流值和/或漏电流值对应的工作电压值;

根据漏电流值与工作电压的对应关系或所保存的工作电压值设置电源的电压调整参数;

基于所述电压调整参数为各芯片提供相应的工作电压。

本发明提供的一种自适应调节芯片工作电压的系统,包括:

检测模块,用于分别检测得到各芯片的漏电流值;

量化编码模块,用于对所述漏电流值进行量化编码;

存储模块,用于保存所述各芯片的漏电流编码;

设置模块,用于根据预定的漏电流编码与工作电压的对应关系设置电源的电压调整参数;

电压调节模块,基于所述电压调整参数将芯片调整为相应的工作电压。

更适宜地,所述存储模块为下述介质之一:

电可编程熔丝eFuse, 电可擦可编程只读存储器EEPROM,闪存Flash。

本发明提供的另一种自适应调节芯片工作电压的方法,包括:

扫描所有可能的工作电压,确定各芯片的最低工作电压;

保存各芯片的所述最低工作电压值;

当芯片启动后采用其相应的最低工作电压供电。

本发明还提供另一种自适应调节芯片工作电压的系统,包括:

电压检测单元,用于扫描所有可能的工作电压,确定各芯片的最低工作电压;

存储单元,用于保存各芯片的所述最低工作电压值;

电压控制单元,用于调节芯片的工作电压;当芯片启动后,将芯片供电电压调整为相应的最低工作电压。

更适宜地,所述存储模块为下述介质之一:

电可编程熔丝eFuse, 电可擦可编程只读存储器EEPROM,闪存Flash。

综上所述,本发明提供的调节芯片工作电压的技术方案,通过获取各芯片的漏电流值并保存,根据该漏电流值与工作电压的关系,确定各芯片的最低工作电压,并在芯片启动后将芯片的工作电压 调整到最低工作电压。这样针对芯片制程带来的芯片差异造成的工作电压不同的情况,可根据芯片自身的物理特性确定芯片的工作电压,以有效控制芯片功耗,降低生产测试成本。

附图说明

图1 为本发明提供的自适应调节芯片工作电压的原理示意图;

图2 为本发明提供的自适应调节芯片工作电压的方法流程图;

图3 为本发明提供的自适应调节芯片工作电压的系统架构示意图;

图4为本实施例中获取漏电流值的原理示意图;

图5为本实施例中提供的另一种工作电压配置过程示意图;

图6为本发明提供的另一种自适应调节芯片工作电压的方法流程图;

图7为本发明提供的另一种自适应调节芯片工作电压的系统架构示意图。

具体实施方式

鉴于现有技术中存在的不足,本发明提供一种自适应调节芯片工作电压的方法和系统,可根据芯片自身的物理特性确定芯片的工作电压,以解决由于芯片制程带来的芯片差异造成的电压不同的问题,根据本发明可有效控制芯片功耗,降低生产测试成本。

图1所示为本发明提供的自适应调节芯片工作电压的原理示意图。

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