[发明专利]一种电阻应变式厚度测量装置及其测量方法有效

专利信息
申请号: 201110325452.3 申请日: 2011-10-24
公开(公告)号: CN102506688A 公开(公告)日: 2012-06-20
发明(设计)人: 鲁阳;胡惠君;雷华 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G01B7/06 分类号: G01B7/06
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人: 韩介梅
地址: 310027 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 电阻 应变 厚度 测量 装置 及其 测量方法
【权利要求书】:

1.一种电阻应变式厚度测量装置,其特征是包括双悬臂梁电阻应变式厚度测量传感器(1)和电阻应变测量仪(2),双悬臂梁电阻应变式厚度测量传感器(1)由U形弹性体(4)、两个带定位轴销或螺纹杆的圆锥顶测量触头(5)和四枚单轴电阻应变计R1、R2、R3、R4构成;U形弹性体(4)的形状对称,其几何结构包括基座(ef)和与基座(ef)两端固联的两支悬臂梁C1和C2;悬臂梁C1和C2的几何结构均分为头部ac和颈部ce两段;头部ac段的长度大于颈部ce段的长度,头部ac段的横截面面积也大于颈部ce段的横截面面积;悬臂梁C1和C2在靠近自由端a处各加工有一个圆柱孔或螺纹孔,两个悬臂梁C1和C2上的圆柱孔或螺纹孔处于同轴位置;两个圆锥顶测量触头(5)按两个圆锥顶互对的方向利用定位轴销或螺纹杆分别与悬臂梁C1和C2上的圆柱孔或螺纹孔配合,固定在U形弹性体(4)上;两个圆锥顶测量触头(5)的间隔区域用于放置厚度标准器(3)或被测试样(6),两个圆锥顶的间距小于厚度标准器(3)或被测试样(6)的最小厚度;电阻应变计R1和R2对称粘贴在悬臂梁C1的颈部ce的两侧,电阻应变计R3和R4对称粘贴在悬臂梁C2的颈部ce的两侧,电阻应变计R1、R2、R3和R4的轴线平行于悬臂梁C1和C2的轴线;电阻应变计R1和R2用于感受悬臂梁C1的弯曲线应变,电阻应变计R3和R4用于感受悬臂梁C2的弯曲线应变,四枚电阻应变计R1、R2、R3、R4以全桥形式接入电阻应变测量仪(2)。

2.权利要求1所述电阻应变式厚度测量装置的测量方法,包括标定和测量,操作步骤如下:

(1)用厚度标准器标定厚度测量系统:将厚度标准器的各标准厚度规块依次放入双悬臂梁电阻应变式传感器(1)的两圆锥顶测量触头(5)之间,并使标准厚度规块的两工作面与圆锥顶测量触头(5)的轴线垂直;记下电阻应变测量仪(2)的各次读数εr,然后利用最小二乘法求出电阻应变测量仪(2)读数εr与厚度值δ的函数关系式,即拟合方程

εr=Aδ+B             (a)

式(a)中的常数A和B,分别按公式(a-1)和(a-2)计算:

A=Σi=15(δi-δi)(ϵri-ϵr)Σi=15(δi-δi)2---(a-1)]]>

B=ϵr-A×δi---(a-2)]]>

式(a-1)和(a-2)中,δi表示不同厚度的标准厚度规块的标准厚度值;是各个标准厚度规块标准厚度值δi的算术平均数;εri表示与不同厚度的标准厚度规块对应的应变仪读数;是与不同厚度的标准厚度规块对应的应变仪读数εri的算术平均数;

(2)测量被测试样的静态厚度:将被测试样放入双悬臂梁电阻应变式传感器(1)的两圆锥顶测量触头(5)之间,并使被测试样的测量面与圆锥顶测量触头(5)的轴线垂直,或者使被测试样两测量面上的指定测点分别与两个圆锥顶测量触头的顶点对准;记下电阻应变测量仪(2)的读数εr,然后用公式

δ=ϵr-BA---(b)]]>

计算被测试样的厚度,或者将电阻应变测量仪(2)的读数εr直接送入计算机,由计算机按公式(b)给出被测试样的厚度;沿与圆锥顶测量触头(5)轴线垂直的方向移动被测试样,调整被测试样与圆锥顶测量触头的接触位置,测定被测试样不同位置的厚度;转动被测试样,调整被测试样相对于圆锥顶测量触头(5)的角度,测量被测试样沿不同贯穿线方向的厚度;

(3)以厚度引伸方式测量被测试样的动态厚度:将被测试样夹持在双悬臂梁电阻应变式传感器(1)的两个圆锥顶测量触头(5)之间,圆锥顶测量触头(5)的轴线与被测试样的测量面垂直,双悬臂梁电阻应变式传感器的底部连接柔绳(7)的一端,柔绳(7)的另一端固定,使双悬臂梁电阻应变式传感器处于半悬挂状态;对被测试样施加与其厚度方向垂直的载荷F,利用圆锥顶测量触头(5)与被测试样之间的摩擦力,使圆锥顶测量触头(5)与被测试样的接触点保持不变,当被测试样的厚度发生连续变化时,由计算机虚拟仪器系统实时采集电阻应变测量仪(2)的读数εr,并按公式(b)计算被测试样的动态厚度。

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