[发明专利]测试负载卡

权利要求书

1.一种测试负载卡，用于测试主板上的多种类型的PCI插槽，每一PCI插槽具有至少两个工作电压，该测试负载卡包括：

若干金手指片，用于分别与不同的PCI插槽匹配连接；

若干电压端，每一电压端与至少一个金手指片的电源引脚连接，当测试负载卡通过相应的金手指片与对应的PCI插槽连接时，相应的电压端从该PCI插槽获得该PCI插槽的当前工作电压；

若干负载及电压选择电路，每一负载及电压选择电路对应包括了对相应的工作电压下一PCI插槽进行测试所需的负载电阻；每一负载及电压选择电路与一电压端连接，用于响应用户的操作处于工作或不工作状态，从而选择测试负载卡的输入电压以及负载电阻，使得该测试负载卡的负载电阻以及输入电压分别为对一工作电压下的某一PCI插槽进行测试所需的负载电阻以及该工作电压。

2.如权利要求1所述的测试负载卡，其特征在于，每一负载及电压选择电路包括：

第一路径开关以及第二路径开关，分别包括控制端、第一导通端以及第二导通端；

切换开关，包括第一、第二、第三、第四、第五以及第六连接端，该第一、第三连接端与相应的电压端连接，第二连接端与第一路径开关的控制端连接，第四连接端与第二路径开关的控制端连接，第五及第六连接端悬空；

第一负载电阻，连接于该第一路径开关的第一导通端以及相应的电压端之间；

第二负载电阻，连接于第二路径开关的第一导通端以及相应的电压端之间；

一温度感应器连接于该第一负载电阻以及第二负载电阻之间，用于感测该第一负载电阻以及第二负载电阻的温度；

该第一路径开关以及第二路径开关的第二导通端接地。

3.如权利要求2所述的测试负载卡，其特征在于，该切换开关为一多路导通开关，用于选择性的导通第一、第二连接端的连接或第三、第四连接端的连接或第五、第六连接端的连接，该第一路径开关以及第二路径开关均为高电平导通开关；当该切换开关连接该第一连接端与第二连接端时，第一路径开关的控制端通过该切换开关与电源端连接而获得一高电平，从而第一路径开关导通，电源端以及第一负载电阻所在的电流支路导通，从而第一负载电阻流过相应的电流，该温度感应器感测到的第一负载电阻的温度即反映了对应插槽的良好程度；当该切换开关连接该第三连接端与第四连接端时，第二路径开关的控制端通过该切换开关与电源端连接而获得一高电平，从而第二路径开关导通，电源端以及第二负载电阻所在的电流支路导通，从而第二负载电阻流过相应的电流，该温度感应器感测到的第二负载电阻的温度即反映了对应插槽的良好程度。

4.如权利要求2所述的测试负载卡，其特征在于，不同的负载及电压选择电路包括的第一负载电阻的阻值各不相同，第二负载电阻的阻值也各不相同。

5.如权利要求2所述的测试负载卡，其特征在于，该些负载及电压选择电路中的切换开关响应用户的操作而导通第一、第二连接端的连接或第三、第四连接端的连接或第五、第六连接端的连接，使得与该插槽以及工作电压对应的负载及电压选择电路中的某一负载电阻所在支路被选通，而其他负载及电压选择电路处于不工作状态，通过温度感应器侦测流过电流的相应负载电阻的温度，该温度参数即反映了待测试的该插槽的良好程度。

6.如权利要求1所述的测试负载卡，其特征在于，该主板上的若干待测试PCI插槽分别为PCIE x8插槽、PCIE x16插槽、PCI插槽以及PCIX插槽，该金手指片分别为与PCIE x8插槽、PCIE x16插槽、PCI插槽以及PCIX插槽对应的金手指片。

7.如权利要求6所述的测试负载卡，其特征在于，PCIEx8以及PCIEx16类型插槽具有12V以及3.3V的工作电压，PCI和PCIX具有5V和3.3V的工作电压，该若干电压端的个数为四个，分别对应了该四个插槽所具有的工作电压，该若干负载及电压选择电路也为四个，该些负载及电压选择电路分别包括了PCIEx8以及PCIEx16在3.3V工作电压下测试所需的负载电阻、PCIEx8以及PCIEx16在12V工作电压下测试所需的负载电阻、PCI以及PCIX在3.3V工作电压下测试所需的负载电阻、以及PCI以及PCIX在5V工作电压下测试所需的负载电阻。