[发明专利]均匀双各向同性媒质物体的雷达散射截面获取方法有效

专利信息
申请号: 201110326369.8 申请日: 2011-10-24
公开(公告)号: CN102508220A 公开(公告)日: 2012-06-20
发明(设计)人: 卞红河;邹志粘;袁志巍;章秀银 申请(专利权)人: 西瑞克斯(北京)通信设备有限公司
主分类号: G01S7/41 分类号: G01S7/41
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 宋松
地址: 100101 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 均匀 各向同性媒质 物体 雷达 散射 截面 获取 方法
【权利要求书】:

1.均匀双各向同性媒质物体的雷达散射截面获取方法,其特征在于包括如下步骤:

步骤(1)均匀双各向同性媒质物体在均匀背景介质中,背景介质的介电常数为ε1,磁导率为μ1,均匀双各向同性媒质物体的介电常数为ε2,磁导率为μ2;电磁波从背景介质中入射,被均匀双各向同性媒质物体散射;根据均匀双各向同性媒质物体的几何尺寸及其空间位置信息,建立均匀双各向同性媒质物体的几何模型,应用矩量法的三角形表面剖分方法,将其表面S剖分为无缝连接的多个三角形面元;

步骤(2)均匀双各向同性媒质物体表面S的面电源矢量函数和面磁源矢量函数的空间域基函数采用RWG基函数:

e(r,t)=Σn=0Nen(t)fn(r)]]>

h(r,t)=Σn=0Nhn(t)fn(r)]]>

en(t)和hn(t)是时间系数,N是均匀双各向同性媒质物体表面三角形剖分之后的公共边数,是RWG基函数;时间域的基函数采用φj(st)=e-st/2Lj(st):

en(t)=Σj=0Men,jφj(st)]]>

hn(t)=Σj=0Mhn,jφj(st)]]>

Lj(st)是带有幅度因子s的j阶拉盖尔函数,M是时间基函数的最大阶数,en,j是电源矢量系数,hn,j是磁源矢量系数;

步骤(3)在均匀双各向同性媒质物体内部电磁场分解为左旋极化波场与右旋极化波场:

Ed=E++E-]]>

Hd=H++H-]]>

其中,和分别是均匀双各向同性媒质物体内部电磁场的电场分量和磁场分量,和分别是右旋极化波场的电场分量和磁场分量;和分别是左旋极化波场的电场分量和磁场分量;根据电磁场边界条件,在均匀双各向同性媒质物体表面上的切向电磁场连续,得到边界积分方程

Ei(r,t)|tan=-Es(e,h)|tan+Σ±E±(e±,h±)|tan]]>

Hi(r,t)|tan=-Hs(e,h)|tan+Σ±H±(e±,h±)|tan]]>

其中,和分别是入射电磁波的电场分量和磁场分量;和分别是散射场的电场分量和磁场分量;|tan表示场量取沿散射体表面的切向方向的分量。对边界积分方程应用伽略金方法,得到2N*2N维的矩阵方程,求解矩阵方程得到en,j和hn,j;进一步得到面电源矢量函数和面磁源矢量函数

步骤(4)根据等效原理,由面电源矢量函数和面磁源矢量函数得到观察点的电磁散射,再应用傅里叶变换得到雷达散射截面。

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