[发明专利]多层光记录介质

说明书

技术领域

本发明涉及层积多个记录再现层的多层光记录介质，其中，该记录再现层能够通过照射光来再现信息。

背景技术

在光记录介质的领域中，借助激光光源的短波长化和光学系统的高NA化，来提高记录密度。例如在Blu-ray Disc(BD：蓝光盘)规格的光记录介质中，能够使激光的波长为405nm，开口数为0.85，进行每1层25GB容量的记录再现。但是，利用这些光源和光学系统的努力达到极限，为了使记录容量进一步增大，谋求沿光轴方向多重记录信息的体积记录。例如，在Blu-ray Disc(BD)规格的光记录介质中，提出了具有8层记录再现层(参照非专利文献1)或具有6层记录再现层(参照非专利文献2)的多层光记录介质。

在多层光记录介质中，在对记录再现层的信息进行再现时，其他记录再现层的信号漏入或因其他记录再现层的影响产生的噪声(noise)漏入即所谓的串扰成为问题。该串扰会导致伺服信号和记录信号的恶化。

该串扰包括层间串扰和共焦串扰(confocal crosstalk)这两类。层间串扰是指，由与再现中的记录再现层相邻的记录再现层反射后的光漏入到再现光中而产生的现象。因此，在具有两层以上的记录再现层的多层光记录介质中必定成为问题。若增大层间距离，则该层间串扰会变小。

共焦串扰是在具有3层以上的记录再现层的多层光记录介质中特有的现象，共焦串扰是指，在由再现中的记录再现层仅反射了一次的本来的再现光与由其他记录再现层反射了多次的杂散光(stray light)之间，彼此的光程一致而产生的现象。

关于共焦串扰的产生原理，使用图19～图22进行说明。在如图19所示那样的多层光记录介质40中，为了进行再现或记录而会聚于L0记录再现层40d上的光束70因记录再现层的半透过性而分支成多个光束。在图20中示出如下现象：从用于L0记录再现层40d的记录再现的光束分支出的光束71被L1记录再现层40c反射并在L2记录再现层40b上聚焦，然后该反射光再次被L1记录再现层40c反射而被检测。

在图21中示出如下现象：从用于L0记录再现层40d的记录再现的光束分支出的光束72由L2记录再现层40b反射，并在光入射面40z上聚焦，然后该反射光再次被L2记录再现层40b反射而被检测出。在图22中示出如下现象：从用于L0记录再现层40d的记录再现的光束分支出的光束73没有在其他记录再现层上聚焦，但依次由L1记录再现层40c、L3记录再现层40a、L2记录再现层40b反射而被检测出。

与光束70进行比较，作为杂散光的光束71～73的光量小，但由于以相等的光程和相等的光束直径入射到光检测器，所以由干涉产生的影响大，由光检测器接受到的光量因微小的层间厚度的变化而显著变动，难以检测稳定的信号。另一方面，关于杂散光，反射的次数越多，因成为各记录再现层的反射率之积，而光量越减少，因此，在实际应用上考虑三次的多面反射的杂散光即可。

在这些图19～图22所示的现象中，例如，若设定T1＝T2，则光束70和光束71的光程与光束直径相一致，同时入射到光检测器(光电检测器)而被检测。同样，若设定T1+T2＝T3+TC，则光束70和光束72的光程和光束直径相一致，另外，若设定T3＝T1，则光束70和光束73的光程和光束直径相一致。因此，为了避免共焦串扰，通常采用使所有的层间距离不同的方法。

非专利文献1：I.Ichimura et.al.，Appl.Opt.，45，1794-1803(2006)

非专利文献2：K.Mishima et.al.，Proc.of SPIE，6282，62820I(2006)

从上述说明可知，若要为了避免层间串扰而扩大层间距离，则难以在有限的厚度中增加记录再现层的叠层数。另外，若要为了避免共焦串扰而一边使所有层间距离不同一边增加记录再现层的叠层数，则需要准备各种膜厚的中间层，所以结果产生层间距离变大的问题。其结果存在如下问题，即，距离光入射面最远的记录再现层远离开光入射面，对于倾斜等下的彗形象差产生不利作用。

进而，有时在各记录再现层上必须形成凹槽(grrove)/平台(land)等的循迹控制用的凹凸。此时，由于需要利用压模在各中间层上形成凹凸，所以容易在中间层的膜厚上产生误差。因此，若要预先考虑该成膜误差的影响来使各中间层的膜厚不同，则需要将膜厚差设定得大，所以存在使多层光记录介质的厚度越来越大的问题。