[发明专利]高温超导材料多场耦合测试系统有效
| 申请号： | 201110329823.5 | 申请日： | 2011-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN102435965A | 公开（公告）日： | 2012-05-02 |
| 发明（设计）人： | 张兴义;周军;赵沛;周又和 | 申请（专利权）人： | 兰州大学 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12 |
| 代理公司： | 北京中恒高博知识产权代理有限公司 11249 | 代理人： | 刘洪京 |
| 地址： | 730000 甘*** | 国省代码： | 甘肃;62 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 高温 超导 材料 耦合 测试 系统 | ||
【权利要求书】：
1.一种高温超导材料多场耦合测试系统，其特征在于，包括低温杜瓦装置和磁场发生装置，所述磁场发生装置内部为空腔结构，在空腔（10）内设置有磁场均匀区（9），所述低温杜瓦装置设置在该磁场均匀区（9），所述低温杜瓦装置包括低温施力机构（4、5）、绝缘构件（3）、低温夹具（2）、封盖（8）、绝缘构件（3）、杜瓦容器（1）和温度探头（6），所述低温施力机构（4）组成 “U”形结构，该“U”形结构的两个自由端固定在封盖（8）上，所述低温施力机构（5）穿透封盖（8）并固装在封盖上，在该“U”形结构的底部与低温施力机构（5）的底部相对设置有绝缘构件（3），所述绝缘构件（3）上装置用来固定试样的低温夹具（2），所述温度探头（6）装置在固定在低温夹具（2）间的试样上，所述低温夹具（2）上设置有接线柱（7），所述杜瓦容器（1）半封闭包裹在低温杜瓦装置的外围，所述封盖（8）盖装在杜瓦容器（1）的开口上。
2.根据权利要求1所述的高温超导材料多场耦合测试系统，其特征在于，所述磁体空腔直径150mm，高度为450mm，中心磁场均匀区为100mm。
3.根据权利要求1所述的高温超导材料多场耦合测试系统，其特征在于，所述温度探头（6）采用铑铁温度计。
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