[发明专利]阵列测试垫与源极驱动电路设置相异侧的液晶显示面板有效
申请号: | 201110329877.1 | 申请日: | 2011-10-24 |
公开(公告)号: | CN102385828A | 公开(公告)日: | 2012-03-21 |
发明(设计)人: | 余建城 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00;G09G3/36 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 梁挥;祁建国 |
地址: | 中国台湾新竹科*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阵列 测试 驱动 电路 设置 相异 液晶显示 面板 | ||
技术领域
本发明关于一种液晶显示面板,尤指一种阵列测试垫及源极驱动电路设置于像素阵列的相反两侧的液晶显示面板。
背景技术
液晶显示面板(Liquid Crystal Display,简称LCD)是目前最为普遍的显示器类型,在制造技术不断进步下,液晶显示面板的制造良率也随着提高,然而不可避免的,目前液晶显示面板的良率仍无法到达百分之百。基于良率上的考虑,在制造过程中,通常会加入检测机制以提高液晶显示面板的良率。
请见图1,图1为现有液晶显示面板100的示意图,液晶显示面板100的中央部份包含一像素阵列102,像素阵列102的左右两侧设置一扫描驱动电路104,且扫描驱动电路104耦接于像素阵列102,并用以驱动像素阵列102。像素阵列102下方设置一集成电路垫106。在集成电路垫106与液晶显示面板100之间加入一阵列测试电路112,集成电路垫106的底层包含一阵列测试垫,此阵列测试垫耦接于阵列测试电路112,且阵列测试垫上具有多个信号接点,用以进行阵列测试。
然而,由于阵列测试垫是放在集成电路垫106的底层,所以当集成电路垫106的面积越做越小时,其底层的空间就会缩小,造成无法容纳阵列测试垫。
此外,因LCD面板被设计为具有越来越高的分辨率,对进行液晶显示面板100进行阵列测试所需的信号接点的数目就会越来越多。因此,集成电路垫106的底层空间不足的问题将越趋明显,而无法容纳阵列测试垫。
发明内容
本发明的一实施例提供一种液晶显示面板,包含一像素阵列,包含多个以阵列方式排列的像素;一源极驱动电路,设置于该像素阵列的第一侧,且耦接于该像素阵列,用以对所述像素提供影像数据或单元测试信号;一阵列测试电路,耦接于该像素阵列,用以对所述像素循序提供阵列测试信号;及一阵列测试垫,设置于该像素阵列的第二侧,且耦接于该源极驱动电路及该阵列测试电路,用以控制该源极驱动电路及该阵列测试电路,并对该阵列测试电路提供该阵列测试信号。该像素阵列的第一侧与该像素阵列的第二侧位于该像素阵列的相反二侧。
通过上述本发明液晶显示面板的设计,当集成电路垫的面积越做越小时,或是当对液晶显示面板进行阵列测试所需的信号接点的数目越来越多时,液晶显示面板足以容纳更大的阵列测试垫,而不再有空间不足的问题。
附图说明
图1为现有液晶显示面板的示意图;
图2为本发明液晶显示面板的示意图;
图3为图2液晶显示面板的电路架构图。
其中,附图标记:
100、200 液晶显示面板
102、202 像素阵列
104、204 扫描驱动电路
106、206 集成电路垫
112 阵列测试电路
214 阵列测试机制
312 第三色彩接点
314 第三控制信号接点
318 影像数据接点
320 阵列测试垫
322 第一色彩接点
328 第一控制信号接点
330 第一阵列测试接点
332 阵列信号接点
334 阵列测试信号接点
340 单元测试垫
342 第二色彩接点
348 第二控制信号接点
350 第二阵列测试接点
354 单元测试信号接点
370 源极驱动电路
372 色彩开关
374 第二控制开关
380 阵列测试电路
382 多路复用器
384 阵列测试开关
386 第一控制开关
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