[发明专利]测量烟颗粒的粒径的方法及装置无效
申请号: | 201110330275.8 | 申请日: | 2011-10-26 |
公开(公告)号: | CN102507399A | 公开(公告)日: | 2012-06-20 |
发明(设计)人: | 张永明;李耀东;方俊;王进军 | 申请(专利权)人: | 中国科学技术大学 |
主分类号: | G01N15/02 | 分类号: | G01N15/02 |
代理公司: | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人: | 郑立明;黄晓军 |
地址: | 230026 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 颗粒 粒径 方法 装置 | ||
1.一种测量烟颗粒的粒径的方法,其特征在于,包括:
根据烟颗粒的散射光的直流分量和谐波分量建立烟颗粒的散射光的散射矩阵;
根据所述散射矩阵建立烟颗粒的粒径参数的目标函数,利用所述散射矩阵和目标函数通过反演算法,获取所述目标函数的最优值,根据所述最优值得到所述烟颗粒的粒径分布。
2.根据权利要求1所述的测量烟颗粒的粒径的方法,其特征在于,所述的根据烟颗粒的散射光的直流分量和谐波分量建立烟颗粒的散射光的散射矩阵,包括:
获取激光通过烟颗粒所在的区域产生的散射光,对所述散射光进行低通滤波得到直流分量,通过锁相放大器检测得到所述散射光的一阶和二阶谐波分量;
根据所述直流分量、一阶和二阶谐波分量的组成的线性方程组建立烟颗粒的散射光的米勒Mueller散射矩阵F;
所述θ是所述激光发射到烟颗粒所在的区域的入射角度,所述F11(θ)是入射光强度与散射光强度之间的传输特性,所述F12(θ)是与散射平面平行的线偏振光,以及与散射平面垂直的线偏振光的消偏振率,所述F22(θ)是与散射平面垂直的入射线偏振光到与散射平面垂直的散射线偏振光的传输特性,所述F33(θ)是与散射平面呈±45°夹角的线偏振入射光到与散射平面呈±45°夹角的线偏振散射光的传输特性,所述F34(θ)是圆偏振入射光到与散射平面呈±45°角的线偏振散射光的传输特性,所述F44(θ)是圆偏振入射光到圆偏振散射光的传输特性;
将所述米勒Mueller散射矩阵F中的除了F11(θ)以外的其他矩阵元素都除以F11(θ),并且F11(θ)其他角度的值除以F11(θ)在0度角的值,得到归一化的Mueller散射矩阵F。
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