[发明专利]一种基于FPGA的芯片验证方法、装置及系统

权利要求书

1.一种基于FPGA的芯片验证方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：

根据预设测试程序随机生成源数据，以供待测LCD模块进行显示处理后生成结果数据；

根据所述源数据生成参考数据；

对所述结果数据进行监控；

将监控后的所述结果数据与所述参考数据进行对比，输出验证结果。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述源数据包括：显示属性、显示模式、参数以及显示的视频数据。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将监控后的所述结果数据与所述参考数据进行对比，输出验证结果的步骤具体为：

多次获取并判断所述结果数据与所述参考数据是否一致；

若是，则输出合格信号；

若否，则输出不合格信号。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述多次获取并判断所述结果数据与所述参考数据是否一致的步骤之后，所述方法还包括：

对多个所述合格信号和所述不合格信号进行统计，输出合格率。

5.一种基于FPGA的芯片验证装置，其特征在于，所述装置包括：

源数据生成单元，用于根据预设测试程序随机生成源数据，以供待测LCD模块进行显示处理后生成结果数据；

参考数据生成单元，根据所述源数据生成参考数据；

监控单元，用于对所述结果数据进行监控；

比较单元，用于将监控后的所述结果数据与所述参考数据进行对比，输出验证结果。

6.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述源数据生成单元包括：

显示属性生成模块，用于生成显示属性；

显示模式生成模块，用于生成显示模式；

显示参数生成模块，用于生成显示参数；

视频数据生成模块，用于生成视频数据。

7.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述比较单元包括：

比较判断模块，用于多次获取并判断所述结果数据与所述参考数据是否一致，若是，则输出合格信号，若否，则输出不合格信号。

8.如权利要求7所述的装置，其特征在于，所述比较单元还包括：

统计模块，用于对多个所述合格信号和所述不合格信号进行统计，输出合格率。

9.一种基于FPGA的芯片验证系统，其特征在于，所述系统包括如权利要求5至8任一项所述的基于FPGA的芯片验证装置。