[发明专利]处理盒及其余量检测方法和成像装置及其控制方法

权利要求书

1.一种处理盒，包括处理盒壳体，所述处理盒壳体内至少容置有显影辊和出粉刀，且所述处理盒壳体内形成有显影剂容纳室和显影室，所述显影辊位于显影室中，其特征在于：

所述出粉刀的第一导体和所述显影辊的第二导体之间形成余量检测电容，所述第一导体和第二导体分别与检测引脚和电压引脚相连，用于测定余量检测电容的变化。

2.根据权利要求1所述的处理盒，其特征在于：所述处理盒为接触式处理盒；金属材质的出粉刀作为所述第一导体，并通过框架固定在处理盒壳体内侧；所述显影辊包括金属芯轴和外侧的橡胶套，所述金属芯轴作为第二导体。

3.根据权利要求1所述的处理盒，其特征在于：所述处理盒为接触式处理盒；所述出粉刀包括金属本体和端部的橡胶条，并通过框架固定在处理盒壳体内侧；所述金属本体作为所述第一导体；所述显影辊包括金属芯轴和外侧的橡胶套，所述金属芯轴作为第二导体。

4.根据权利要求1所述的处理盒，其特征在于：所述处理盒为非接触式处理盒；所述出粉刀包括金属本体和端部的橡胶条，并通过框架固定在处理盒壳体内侧，所述金属本体作为所述第一导体；金属材质的所述显影辊作为所述第二导体。

5.根据权利要求2或3或4所述的处理盒，其特征在于：所述处理盒壳体的壁面在显影剂容纳室和显影室的交点处弯折且向内突出，所述出粉刀的框架固定在朝向所述显影辊的壁面上，且所述框架为导电材料制成，所述第一导体通过所述框架与检测引脚相连。

6.一种成像装置，其特征在于：包括权利要求1-5任一所述的处理盒，所述检测引脚与检测装置相连，所述电压引脚与电源相连，成像装置控制组件与所述检测装置相连，用于根据测定的余量检测电容的变化获取余量检测信号。

7.一种处理盒余量检测方法，适用于权利要求6所述的成像装置，其特征在于，包括：

控制电源在电压引脚上施加电压，且通过检测装置在所述检测引脚上测定余量检测电容的变化；

根据设定的转换映射规则，将所述余量检测电容的变化转换为余量检测信号。

8.根据权利要求7所述的处理盒余量检测方法，其特征在于，所述控制电源在电压引脚上施加电压，且通过检测装置在所述检测引脚上测定余量检测电容的变化包括：

当识别到成像装置结束成像操作时，停止显影辊转动，且停止施加在所述出粉刀上的电信号；

控制电源在电压引脚上施加电压；

通过检测装置获取所述检测引脚上输出的电压值，作为所述余量检测电容的变化。

9.根据权利要求7或8所述的处理盒余量检测方法，其特征在于，在控制电源在电压引脚上施加电压之前，还包括：控制将接触的感光鼓与显影辊分离。

10.一种成像装置控制方法，其特征在于，包括：

当识别到处理盒安装到成像装置上时，执行权利要求7-9任一所述的处理盒余量检测方法；

当根据所述余量检测信号判断出显影室内的显影剂量低于设定门限值时，发出密封条未去除的报警信号。