[发明专利]γ射线检测系统以及正电子发射断层摄影系统

权利要求书

1.一种γ射线检测系统，具备多个具有相同长度的检测器模块，各检测器模块检测从正电子消失现象中产生的γ射线，该γ射线检测系统的特征在于：

上述多个检测器模块的第1检测器模块被安装成：在轴方向与上述多个检测器模块中和上述第1检测器模块相邻接的第2检测器模块错开比上述检测器模块的长度短的规定间隔。

2.根据权利要求1所述的γ射线检测系统，其特征在于：

上述多个检测器模块中包含的检测器模块每隔一个在上述轴方向被错开上述规定间隔地安装。

3.根据权利要求1所述的γ射线检测系统，其特征在于，还包括：

处理器，其进行从上述多个检测器模块的各检测器模块取得的现象数据的收集以及处理；

监视器，其响应从上述处理器接收到的指令，使上述多个检测器模块旋转各检测器模块宽度的规定倍数。

4.根据权利要求3所述的γ射线检测系统，其特征在于：

还包括感知单元，该感知单元检测并存储与上述多个检测器模块相关的旋转角度作为时间函数；

上述处理器使用上述收集的现象数据以及上述检测出的旋转角度来重建图像。

5.一种正电子发射断层摄影系统，具备多个具有相同长度并且被配置在圆筒环体中的放射线检测器模块，各放射线检测器模块检测从正电子消失现象中产生的γ射线，该正电子发射断层摄影系统的特征在于：

上述多个放射线检测器模块的第1检测器模块被安装成：在轴方向与上述多个放射线检测器模块中和上述第1检测器模块相邻接的第2检测器模块错开比上述放射线检测器模块的长度短的规定间隔；

上述第1检测器模块以及第2检测器模块形成：

具有与上述放射线检测器模块的长度减去上述规定间隔后的长度相等的轴方向的视野的中央扫描区域；

具有与上述规定间隔相等的轴方向的视野的第1周边扫描区域；以及

具有与上述规定间隔相等的轴方向的视野的第2周边扫描区域。

6.根据权利要求5所述的正电子发射断层摄影系统，其特征在于，还包括：

处理器，其进行现象数据的收集以及处理，并且将对应于上述中央扫描区域的消失现象与对应于上述第1周边扫描区域的消失现象组合。

7.根据权利要求5所述的正电子发射断层摄影系统，其特征在于，还包括：

处理器，其进行现象数据的收集以及处理，并且将对应于上述中央扫描区域的消失现象与对应于上述第2周边扫描区域的消失现象组合。

8.根据权利要求7所述的正电子发射断层摄影系统，其特征在于，还包括：

处理器，其进行现象数据的收集以及处理，并且将对应于上述第1周边扫描区域的消失现象与对应于上述第2周边扫描区域的消失现象组合。

9.根据权利要求5所述的γ射线检测系统，其特征在于：

上述多个放射线检测器模块中包含的放射线检测器模块每隔一个在上述轴方向被错开上述规定间隔地安装。

10.根据权利要求5所述的正电子发射断层摄影系统，其特征在于，还包括：

处理器，其进行现象数据的接收以及处理；

监视器，其从上述处理器接收指令，以对应于上述第1周边扫描区域的现象数据补充对应于上述第2周边扫描区域的现象数据的形式，使包含上述多个放射线检测器模块的上述圆筒环体旋转上述第1检测器模块宽度的规定倍数。

11.根据权利要求10所述的正电子发射断层摄影系统，其特征在于：

还包括感知单元，其检测并存储与上述多个放射线检测器模块相关的旋转角度作为时间函数；

上述处理器使用上述收集的现象数据以及上述检测出的旋转角度来重建图像。