[发明专利]一种工业超滤膜装置污染物在线提取及剖析方法

权利要求书

1.一种工业超滤膜装置污染物在线提取及剖析方法，包括以下步骤：

选用具有相对致密皮层结构的超滤膜制作侧线膜组件，作为工业超滤膜装置运行过程中关键污染物提取的载体；

将侧线膜组件并联到工业超滤膜装置中，调节侧线膜组件的进出水阀门开度大小，以控制进水在膜面的流速为0~8m/s；

运行过程中定时记录侧线膜组件的产水量变化，当产水量相对初始产水量下降50~95%，则超滤膜面污染物含量及污染层厚度达到剖析要求；

取出污染的侧线膜组件，取出侧线膜组件中部分被污染的超滤膜，低温烘干后进行关键污染物的观测和剖析；

采用酸和碱分别对步骤（4）中被污染超滤膜进行浸泡清洗，检测清洗液中特定污染物的含量大小。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于步骤（1）中具有相对致密结构皮层的超滤膜包括内皮层相对致密或外皮层相对致密的中空纤维膜或卷式超滤膜，其中相对致密皮层的超滤膜孔径大小为0.001-0.02μm。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于中空纤维膜或卷式超滤膜材质可以选择双酚A型聚砜、聚醚砜、酚酞型聚醚砜和聚醚酮、聚芳醚砜酮、聚偏氟乙烯类中的任意一种。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于侧线膜组件的运行方式选择错流方式或死端方式。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于步骤（3）中的定时记录侧线膜组件的产水量变化0-5h内5-60min记录一次，侧线膜组件运行5h以后1-4h记录一次。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于步骤（4）中的对取出的被污染超滤膜采用20-60℃低温烘干。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于步骤（4）中对被污染的超滤膜面采用SEM、SEM-EDS、SEM-XPS或FTIR中任意一种或多种进行直接观测和剖析。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于步骤（5）中被污染超滤膜分别采用pH为1和pH为13的酸、碱清洗液进行15-45min的浸泡、搅拌清洗，分析清洗液中污染物含量的方法选择ICP-Mass和TOC的分析方法。

9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于步骤（5）中选择pH范围分别为1-3和10-13的酸、碱分别对被污染超滤膜进行清洗。

10.根据权利要求8或9所述的方法，其特征在于所述的酸选择盐酸、草酸、柠檬酸中的任意一种，所述的碱选择氢氧化钠、次氯酸钠中的任意一种。