[发明专利]一种金相切片的显微镜观察方法

说明书

 

技术领域

本发明涉及失效分析领域，特别涉及一种金相切片的显微镜观察方法。

 

背景技术

金相切片是失效分析工程技术人员广泛使用的观察样品截面内部结构的检测手段。在金相切片制备的过程中，研磨的是否平整是判断样品最后结果优劣的关键所在。目前，研磨的工序基本上是靠实验人员手工研磨，主要通过经验的积累来保证研磨的平整度，既然是人工研磨，那么总是会存在微观上的“不平整”，这些“不平整”是肉眼无法观察到的，但是在显微镜下会非常明显，从而导致整个样品不能被同时观察到。在正常工序里，这样的情况就需要工程人员重新返工再次研磨来保证样品的平整度，有时这样的返工是需要多次的，直到样品绝对平整为止，这就会直接导致试验时间的延长，降低了实验效率。

在大多数工程技术人员制备金相切片的过程中，都会遇到以上这样的情况，因此，如何保证在一次研磨后就可以对金相切片进行很好地观察成为失效分析领域亟待解决的问题。

 

发明内容

为了解决现有金相切片样品观察分析需要多次研磨，从而导致试验时间比较长的问题，本发明提出以下技术方案：

一种金相切片的显微镜观察方法，该方法包括以下步骤：

A、在载物片上放置一块橡皮泥；

B、将待测的金相切片样品水平放置于载物片的橡皮泥上，在金相切片截面上放置平整的保护垫片，对保护垫片垂直施力，将金相切片样品底部压紧于橡皮泥中；

C、将载物片放置于显微镜的观察区，进行样品观察。

作为本发明的一种优选方案，所述步骤B中的保护垫片有两块，分别放置于金相切片样品上部的两侧。

本发明带来的有益效果是：本发明方法步骤简单易操作，有效提高了金相切片样品放置的平整度，使得观察金相切片的各个区域时清晰度一致，提高了整体的实验速度和效率。

 

具体实施方式

下面对本发明的较佳实施例进行详细阐述，以使本发明的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本发明的保护范围做出更为清楚明确的界定。

一种金相切片的显微镜观察方法，该方法包括以下步骤：

A、在载物片上放置一块橡皮泥；

B、将待测的金相切片样品水平放置于载物片的橡皮泥上，在金相切片截面上放置两块平整的保护垫片，对保护垫片垂直施力，使得两块保护垫片受力一致，将金相切片样品底部压紧于橡皮泥中，通过橡皮泥调整金相切片样品的平整度，从而保证无论金相切片样品是否绝对平整，在显微镜观察区域观察时都可以保持绝对平整；

C、最后将载物片放置于显微镜的观察区，即可进行样品观察，从而保证了样品的多个观察区域清晰度一致。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本领域的技术人员在本发明所揭露的技术范围内，可不经过创造性劳动想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求书所限定的保护范围为准。