[发明专利]一种仿真装置及仿真方法有效
申请号: | 201110341171.7 | 申请日: | 2011-11-02 |
公开(公告)号: | CN103093013A | 公开(公告)日: | 2013-05-08 |
发明(设计)人: | 刘若鹏;易翔;黄沣;季春霖;刘斌 | 申请(专利权)人: | 深圳光启高等理工研究院 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50;G01M11/02 |
代理公司: | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝传鑫;熊永强 |
地址: | 518057 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 仿真 装置 方法 | ||
1.一种仿真装置,其特征在于,包括:
参数提取模块,用于提取琼斯矩阵模型的偏振光输入参数、偏振参数、以及偏振光检测参数;
代码处理模块,用于生成分别描述所述参数提取模块提取的偏振光输入参数、偏振参数、偏振光检测参数的程序代码;
运行模块,用于运行所述代码处理模块生成的程序代码,得到描述光偏振器件偏振效果的数据;
输出模块,用于输出所述运行模块运行得到的描述所述光偏振器件偏振效果的数据。
2.如权利要求1所述的仿真装置,其特征在于,所述偏振光输入参数包括偏振光的振幅、起偏器透光轴与X轴的夹角,谐振因子;所述偏振参数包括所述光偏振器件长轴与X轴的夹角参数、所述光偏振器件引入的相位差;所述偏振光检测参数为检偏器透光轴与X轴的夹角。
3.如权利要求2所述的仿真装置,其特征在于,所述仿真装置还包括:
参数接收模块,用于接收用户输入的调节所述起偏器透光轴与X轴的夹角、光偏振器件长轴与X轴的夹角、所述光偏振器件引入的相位差、以及检偏器透光轴与X轴的夹角中的至少一个参数;
所述代码处理模块,还用于根据所述参数接收模块接收到的参数,调节所述参数对应的程序代码。
4.如权利要求1-3任一项所述的仿真装置,其特征在于,所述输出模块输出的描述所述光偏振器件偏振效果的数据包括:
所述偏振光穿过光偏振器件后的偏振状态、光强、X轴上的光强、Y轴上的光强中的至少一个。
5.如权利要求1-3任一项所述的仿真装置,其特征在于,所述输出模块用于以图形格式输出所述运行模块运行得到的描述所述光偏振器件偏振效果的数据。
6.一种仿真方法,其特征在于,包括:
提取琼斯矩阵模型的偏振光输入参数、偏振参数、以及偏振光检测参数;
生成描述所述偏振光输入参数的程序代码、生成描述所述偏振参数的程序代码、生成描述所述偏振光检测参数的程序代码;
运行所述程序代码,得到描述光偏振器件偏振效果的数据;
输出所述描述所述光偏振器件偏振效果的数据。
7.如权利要求6所述的仿真方法,其特征在于,所述偏振光输入参数包括偏振光的振幅、起偏器透光轴与X轴的夹角,谐振因子;所述偏振参数包括所述光偏振器件长轴与X轴的夹角参数、所述光偏振器件引入的相位差;所述偏振光检测参数为检偏器透光轴与X轴的夹角。
8.如权利要求7所述的仿真方法,其特征在于,在生成描述所述偏振光输入参数的程序代码、生成描述所述偏振参数的程序代码、生成描述所述偏振光检测参数的程序代码之后,还包括:
接收用户输入的调节所述起偏器透光轴与X轴的夹角、光偏振器件长轴与X轴的夹角、所述光偏振器件引入的相位差、或检偏器透光轴与X轴的夹角中的至少一个参数;
调节所述生成的程序代码中该参数对应的程序代码。
9.如权利要求6-8任一项所述的仿真方法,其特征在于,所述输出的描述所述光偏振器件偏振效果的数据包括:
所述偏振光穿过光偏振器件后的偏振状态、光强、X轴上的光强、Y轴的上的光强中的至少一个。
10.如权利要求6-8任一项所述的仿真方法,其特征在于,所述输出所述描述所述光偏振器件偏振效果的数据,包括:
以图形格式输出所述描述所述光偏振器件偏振效果的数据。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳光启高等理工研究院,未经深圳光启高等理工研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110341171.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。