[发明专利]一种伺服驱动器老化测试方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及伺服驱动器领域，尤其涉及一种伺服驱动器老化测试方法及系统。

背景技术

伺服驱动器属于伺服系统的一部分，是用来控制伺服电机的一种控制器，其作用类似于变频器作用于普通交流马达。伺服驱动器一般可以采用位置、速度和力矩三种控制方式，主要应用于高精度的定位系统。随着伺服系统的大规模应用，对伺服驱动器的可靠性和稳定性要求也越来越高。

为了保证伺服驱动器的可靠与稳定，达到满意的合格率，避免在使用早期发生故障，需要对出产前的每一个伺服驱动器都进行老化测试，以使有问题的伺服驱动器在出厂前暴露出问题，防止其流入市场。

老化测试是指让被测品进行超负荷工作而使其缺陷在短时间内出现，避免在使用早期发生故障。对伺服驱动器的老化测试需要对待测的伺服驱动器施加一定的环境应力，让伺服驱动器在这种环境下上电持续工作一段时间，检测其是否出现故障。

目前的伺服驱动器进行老化测试的方法主要有两种：一种方法是以被测伺服驱动器控制伺服电机以一定速度空载运行进行老化测试（如图1所示）。另一种是被测伺服驱动器带负载运行进行老化测试（如图2所示），其负载可以是变频器带动的电机，或用机械装置。

但是，上述两种老化测试方法都存在明显的缺陷：第一种方法由于是空载，无法达到被测品的高负荷运行，老化测试效果并不明显。第二种方法虽然带有负载，但负载也需要成本，特别是在进行大规模的老化测试时，需要配备大量的负载，造成成本的增加。

发明内容

本发明实施例所要解决的技术问题在于，提供一种伺服驱动器老化测试方法及系统，对待测的伺服驱动器进行带负载的老化测试，且不需要为其配备专门的负载，以节约成本。

为了解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种伺服驱动器老化测试方法，包括：

将待测的第一、第二伺服驱动器分别与第一、第二伺服电机连接，所述第一伺服电机与第二伺服电机连接；

第一伺服驱动器驱动所述第一伺服电机，所述第二伺服电机作为所述第一伺服电机的负载；

检测所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器在预置的测试时长内是否出现故障；若未出现故障，则判定第一伺服驱动器或第二伺服驱动器合格；若出现故障，则判定所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器不合格。

其中，所述将待测的第一、第二伺服驱动器分别与第一、第二伺服电机连接，所述第一伺服电机与第二伺服电机连接，包括：

将待测的第一、第二伺服驱动器分别与第一、第二伺服电机连接，且将第一、第二伺服驱动器置于高温环境内；

将所述第一伺服电机与第二伺服电机通过轮轴连接，使所述第一伺服电机与第二伺服电机同步。

其中，所述第一伺服驱动器驱动所述第一伺服电机，所述第二伺服电机作为所述第一伺服电机的负载，包括：

第一伺服驱动器驱动所述第一伺服电机，第一伺服电机带动作为其负载的第二伺服电机同步转动；

第二伺服驱动器处于上电状态，收集所述第二伺服电机转动产生的电量，并循环利用。

其中，所述第一伺服驱动器驱动所述第一伺服电机，所述第二伺服电机作为所述第一伺服电机的负载之后，检测所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器在预置的测试时长内是否出现故障之前，还包括：

第二伺服驱动器驱动所述第二伺服电机，所述第一伺服电机作为所述第二伺服电机的负载。

其中，所述第二伺服驱动器驱动所述第二伺服电机，所述第一伺服电机作为所述第二伺服电机的负载包括：

第二伺服驱动器驱动所述第二伺服电机，第二伺服电机带动作为其负载的第一伺服电机同步转动；

第一伺服驱动器处于上电状态，收集所述第一伺服电机转动产生的电量，并循环利用。

相应的，本发明实施例还提供一种伺服驱动器老化测试系统，包括：

装配模块，用于将待测的第一、第二伺服驱动器分别与第一、第二伺服电机连接，所述第一伺服电机与第二伺服电机连接；

控制模块，用于控制第一或第二伺服驱动器驱动其对应的伺服电机转动，另一伺服电机作为转动的伺服电机的负载；

检测模块，用于检测所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器在测试时长内是否出现故障；若未出现故障，则判定所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器合格；若出现故障，则判定所述第一伺服驱动器或第二伺服驱动器不合格。

其中，所述装配模块包括：