[发明专利]一种新型多孔硅及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201110344679.2 申请日: 2011-11-04
公开(公告)号: CN102400217A 公开(公告)日: 2012-04-04
发明(设计)人: 展长勇;任丁;邹宇;刘波;林黎蔚;黄宁康 申请(专利权)人: 四川大学
主分类号: C30B29/06 分类号: C30B29/06;C30B33/10;C25F3/12
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610065 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 新型 多孔 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种新型多孔硅,其特征在于:包括单晶硅(1)、镶嵌在单晶硅(1)中的柱形纳米多孔硅(3)及位于单晶硅(1)上的表面纳米多孔硅(4);所述柱形纳米多孔硅(3)内壁围成的空腔为直孔(2)。

2.根据权利要求1所述的一种新型多孔硅,其特征在于:所述单晶硅为1至100 Ωcm的n型单晶硅基片。

3.根据权利要求1所述的一种新型多孔硅,其特征在于:所述柱形纳米多孔硅(3)垂直于表面纳米多孔硅(4),且与表面纳米多孔硅(4)连为一体。

4.根据权利要求1所述的一种新型多孔硅,其特征在于:所述单晶硅(1)中至少包含一个柱形纳米多孔硅(3),所有柱形纳米多孔硅(3)平行排列。

5.根据权利要求1所述的一种新型多孔硅,其特征在于:所述柱形纳米多孔硅(3)和表面纳米多孔硅(4)为海绵状多孔结构,孔尺寸在5 nm以下。

6.根据权利要求1所述的一种新型多孔硅,其特征在于:所述直孔(2)截面为正方形结构,边长为100-170 nm,孔深为0-70 μm。

7.根据权利要求1所述的一种新型多孔硅,其特征在于:所述表面纳米多孔硅(4)层厚度为100-300 nm。

8.根据权利要求1所述的一种新型多孔硅,其特征在于:所述柱形纳米多孔硅(3)壁的厚度为50-250 nm。

9.一种权利要求1所述的新型多孔硅的制备方法,其特征在于包括如下步骤:

步骤一、清洗基片,将硅片依次用丙酮、乙醇、去离子水分别超声清洗10分钟,取出吹干;

步骤二、安装基片,将硅片安装到电化学腐蚀槽,腐蚀槽为敞开式,抛光面朝向槽内,并保持有光进入,背面朝外,垫石墨片或金属片并引出电极接线;

步骤三、配溶液,将浓HF酸和有机溶剂按1:1至1:1.5的体积比混合;

步骤四、接电源,将配制的混合溶液倒入腐蚀槽,硅片抛光面接触溶液,溶液中插入碳棒或铂丝做电极并接阳极,硅片背面电极接阴极;

步骤五、腐蚀基片,直流电源设定在40-70 V之间,电流设定在20-60 mA/cm2之间,腐蚀时间为1-10 min制得本发明提供的新型多孔硅。

10.如权利要求9所述的新型多孔硅的制备方法,其特征在于:所述有机溶剂为乙醇、丙醇、异丙醇、甲醇中的一种。

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