[发明专利]一种器件时序参数确定方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及嵌入式技术领域，尤其涉及嵌入式系统中一种器件时序参数的确定方法和装置。

背景技术

随着社会经济的发展和信息产业的推进，嵌入式系统已逐渐渗入各行各业，小到手机、iPad(平板电脑)、机顶盒、智能家居，大到通讯基站、航天卫星、现代化工业控制等，嵌入式系统在人们的生活和工作中正扮演着越来越不可或缺的角色。嵌入式系统是以应用为中心，以计算机技术为基础，软硬件可剪裁(可编程，可重构)的专用计算机系统。在一个小的嵌入式系统中可能包含有各类硬件存储器件、复杂可编程逻辑器件、特殊应用集成电路和现场可编程门阵列等器件，为了保障嵌入式系统可以稳定运行，一般需要在启动嵌入式系统前，对一些器件的时序参数进行配置或调整。

现有技术一般通过查找器件手册和CPU手册，根据手册中的参数建议值对器件的时序参数进行配置。然而实际情况是，即使根据手册的参数建议值对一些器件的时序参数进行了配置，系统可能仍无法稳定运行，例如对于一些时序敏感器件，比如内存，即使满足了手册要求，仍然会出现高低温运行不稳定的情况。而且当系统需要更换部件时，也无法通过手册查到这些器件的时序参数，因此如何在未知器件时序参数的情况下，快速定位器件的最佳时序参数，并对器件进行时序参数配置，是本领域有待解决的技术问题。

发明内容

本发明的目的在于，提供一种器件时序参数确定方法和装置，以解决现有技术无法快速定位器件的最佳时序参数，无法保持系统稳定运行的问题。

本发明通过以下方法解决上述技术问题：

一种器件时序参数确定方法，上述方法包括以下步骤：

上位机将待测试的时序参数写入待测器件的一个时序模块，并对上述器件进行压力测试，测试结束后，判断是否有未被测试过的时序参数；

若是，则将下一个时序参数写入上述时序模块中，继续进行压力测试；否则计算通过压力测试的时序参数的平均值，并将上述平均值作为上述器件在上述时序模块的最佳时序参数。

上述方法还包括以下初始化步骤：

上述上位机获取待测器件的寄存器的地址信息，并根据上述地址信息将上述器件划分为多个时序模块。

上述寄存器的地址信息包括上述寄存器的起始地址及位宽。

上述上位机将上述器件划分为多个时序模块之后，还包括以下步骤：

记录各时序模块的起始地址和位宽，并为各时序模块分别设置待测试的时序参数及进行上述压力测试的次数。

在对上述器件进行压力测试之前，上述上位机判断上述器件能否正常运转，若否，则跳过压力测试的步骤。

测试结束后，上述上位机还记录被测试的时序参数及其对应的测试结果。

上述压力测试为读写压力测试，上述器件包括内存或闪存。

本发明还采用以下技术方案：

一种器件时序参数确定装置，包括上位机，上述上位机包括：参数写入模块，压力测试模块，测试判断模块，参数确定模块；

上述参数写入模块，用于将待测试的时序参数写入待测器件的一个时序模块；

上述压力测试模块，用于对待测器件进行压力测试；

上述测试判断模块，用于判断是否有未被测试过的时序参数；

上述参数确定模块，用于计算通过压力测试的时序参数的平均值，并将上述平均值作为待测器件在相应时序模块的最佳时序参数。

上述装置还包括初始化模块，参数设置模块；

上述初始化模块，用于获取待测器件的寄存器的地址信息，并根据上述地址信息将上述待测器件划分为多个时序模块。

上述参数设置模块，用于为待测器件的各时序模块分别设置待测试的时序参数及进行压力测试的次数。

上述寄存器的地址信息包括上述寄存器的起始地址及位宽。

上述压力测试为读写压力测试，上述待测器件包括内存或闪存。

同现有技术相比，本发明具有如下有益技术效果：本发明可以有效解决器件的时序参数配置问题(包括内存，FLASH)，缩短了嵌入式系统的调试时间，使嵌入式产品在各种环境下都能够稳定运行。本发明具有创新性强，拓展性好，适用性广的特点。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本发明的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是本发明优选实施例中器件时序参数确定方法的流程图；

图2是本发明优选实施例中器件时序参数确定装置的模块框图。

具体实施方式