[发明专利]光拾取装置及光盘装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种光拾取装置以及光盘装置。

背景技术

作为本技术领域的背景技术例如有特开2006-344344号公报(专利文献1)。该公报中有如下记载：“从具有多个记录层的光盘获取所要的信号”。此外，例如也有特开2006-344380号公报(专利文献2)。该公报中有如下记载：“在使用具有两个信息记录面的可记录式光存储介质的情况下，检测出偏移少的跟踪误差信号”。此外，例如非专利文献1中有如下记载：“在没有其它层杂光的区域中配置跟踪用光电探测器”，关于其构造也被记载在特开2004-281026中(专利文献3)。

专利文献1日本特开2006-344344号公报(第26页，图3、图5)

专利文献2日本特开2006-344380号公报(第14页，图1)

专利文献3日本特开2004-281026(第71页，图22、图24、图25)

非专利文献1日本电子信息通信学会信学技报CPM2005-149(2005-10)(第33页，图4、图5)

发明内容

在专利文献1中，采用以下这种构造：利用聚光透镜聚集被光盘反射的光束，利用聚光透镜聚集透过2片1/4波长板和偏振光学元件后扩散的光线，并将其照射在光电探测器上。因此，存在检测光学系统变得复杂，尺寸增加的担心。特别是在专利文献2中，在激光光源后配置用于生成3个光斑的衍射光栅，在光盘上照射1个主光斑和2个辅光斑，因此，存在记录所需的主光束的光利用率下降的担心。

在非专利文献1(专利文献3)中，采用一种在聚焦用光电探测器的周围产生的聚焦用光束的来自其它层的杂光的外侧配置跟踪用光电探测器，而且使在全息元件的中央部衍射的光射向来自其它层的杂光的外侧的构造，因此，存在光电探测器的尺寸增大的担心。

本发明的目的在于提供一种在记录再现具有多个信息记录面的信息记录介质的情况下，能够获得稳定的伺服信号的光拾取装置以及搭载它的光盘装置。

作为一例，根据专利权利要求书中记载的发明能够实现上述目的。

本发明提供一种光拾取装置，具备：射出激光的半导体激光器、将从上述半导体激光器射出的光束照射在光盘上的物镜、将从光盘反射的光束分支的衍射光栅、以及具有接受被上述衍射光栅分支的光束的多个受光面的光电探测器，其特征在于，上述衍射光栅具有区域A、区域B、区域C三个区域，在被上述光盘上的轨道衍射的光盘衍射光中，0级光盘衍射光入射到上述区域A中，0级、±1级光盘衍射光入射到上述区域B中，在上述光电探测器中，从在上述衍射区域A、B、C中衍射的光栅衍射光中检测再现信号，并且，检测上述衍射光栅区域A的+1级光栅衍射光或者-1级光栅衍射光的2个以上的受光面在与上述光盘的半径方向基本一致的方向大体在一条直线上排列，检测上述衍射光栅区域B的+1级光栅衍射光或者-1级光栅衍射光的2个以上的受光面在与上述光盘的切线方向基本一致的方向排列。

根据本发明，能够提供一种在记录再现具有多个信息记录面的信息记录介质的情况下，能够获得稳定的伺服信号的光拾取装置以及搭载它的光盘装置。

附图说明

图1是用来说明实施例1中的光拾取装置及光盘的配置的示意图。

图2是用来说明实施例1的本发明的光学系统的示意图。

图3表示实施例1的本发明的衍射光栅。

图4表示实施例1的本发明的受光面。

图5表示实施例1中的双层光盘记录/再现时杂光的形状(检测器上)。

图6是用来说明来自双层光盘的另一层的杂光的行为的图。

图7是用来说明来自双层光盘的另一层的杂光的行为的图。

图8表示实施例1的本发明的其它衍射光栅。

图9表示实施例2的本发明的受光面。

图10表示实施例2中的双层光盘记录/再现时杂光的形状(衍射光栅上)。

图11表示实施例2中的双层光盘记录/再现时杂光的形状(检测器上)。

图12表示实施例2中的双层光盘记录/再现时物镜发生了位移的状态。

图13表示实施例3的本发明的受光面。

图14表示实施例3的本发明的衍射光栅。

图15表示实施例3中的双层光盘记录/再现时杂光的形状(检测器上)。

图16是用来说明实施例4中的光学再现装置的示意图。

图17是用来说明实施例5中的光学记录再现装置的示意图。

符号说明

1、光拾取装置2、物镜5、致动器7、驱动机构10、光电探测器