[发明专利]基于双频改正法估计电离层总电子含量的方法有效
申请号: | 201110346347.8 | 申请日: | 2011-11-04 |
公开(公告)号: | CN102508211A | 公开(公告)日: | 2012-06-20 |
发明(设计)人: | 苏洪涛;刘宏伟;何网 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | G01S7/295 | 分类号: | G01S7/295;G01R29/24 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华;朱红星 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 双频 正法 估计 电离层 电子 含量 方法 | ||
1.一种基于双频改正法估计电离层总电子含量的方法,包括如下步骤:
(A)对雷达接收到的带宽为B1的数据x(n)进行滤波,滤出带宽都为B的下边带信号x1(n)和上边带信号x2(n),其中x1(n)和x2(n)的脉冲宽度均为tp,采样频率均为fs,长度均为N,载频频率分别为f1和f2;
(B)对滤出的两个边带信号x1(n)和x2(n)分别进行系数为L的零内插,得到内插后的信号分别为s1(n)和s2(n),其中s1(n)、s2(n)的载频频率分别为f1和f2,采样频率均为fLS=L·fs;
(C)将内插后的信号s1(n)、s2(n)分别进行脉冲压缩,得到脉压结果y1(n)和y2(n),其中y1(n)、y2(n)载频频率分别为f1和f2;
(D)计算脉压y1(n)与y2(n)的时延差Δτ:
式中,b=1.591×103m3/s2,c为真空中的光速,f1为脉压y1(n)的载频频率,f2为脉压y2(n)的载频频率,Nt为理论电离层总电子含量;
(E)利用y1(n)与y2(n)的时延差Δτ,根据公式(2)估计电离层总电子含量;
式中,Nt_estimate是估计的电离层总电子含量,b=1.591×103m3/s2,f1为脉压y1(n)的载频频率,f2为脉压y2(n)的载频频率,c为真空中的光速;
(F)根据时延差Δτ与1/fLS的大小,判断双频改正法估计电离层总电子含量是否结束;如果时延差Δτ<=1/fLS,整个估计电离层总电子含量的流程结束;如果时延差Δτ>1/fLS,重复步骤(A)~(D),再次迭代估计电离层总电子含量,直到满足时延差Δτ<=1/fLS。
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