[发明专利]紫外与深紫外光学薄膜元件双波长激光荧光光谱仪无效

专利信息
申请号: 201110346722.9 申请日: 2011-11-07
公开(公告)号: CN102519920A 公开(公告)日: 2012-06-27
发明(设计)人: 邓文渊;金春水;靳京城;常艳贺 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G01J3/427
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人: 张伟
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 紫外 深紫 光学薄膜 元件 波长 激光 荧光 光谱仪
【权利要求书】:

1.紫外与深紫外光学薄膜元件双波长激光荧光光谱仪,其特征在于,该光谱仪包括:ArF激光激发模块、KrF激光激发模块、样品室、荧光探测模块和实验同步控制模块;所述ArF激光激发模块发射并传输ArF激光,入射至样品室;KrF激光激发模块发射并传输KrF激光,入射至样品室;所述激光激发光学薄膜样品产生荧光从样品室出射,入射至荧光探测模块后会聚,并将荧光信号转换成电信号,发送至实验同步控制模块。

2.如权利要求1所述的紫外与深紫外光学薄膜元件双波长激光荧光光谱仪,其特征在于,所述实验同步控制模块包括:控制电脑(10)和信号延迟发生器(11);所述控制电脑(10)控制信号延迟发生器(11)向各个模块发射特定的参数信号。

3.如权利要求1所述的紫外与深紫外光学薄膜元件双波长激光荧光光谱仪,其特征在于,所述ArF激光激发模块包括:ArF准分子激光器(20)、第一快门(21)、第一电控可变衰减器(22)、第一准直扩束镜系统(23)和充N2气保护管路(24);所述ArF准分子激光器(20)发射ArF激光,经第一快门(21),入射至第一电控可变衰减器(22),由第一电控可变衰减器(22)调节功率后的激光,入射至第一准直扩束镜系统(23),使长宽比2∶1的入射光变成长宽比1∶1的出射光,进入样品室入射至样品表面;所述充N2气保护管路(24)充N2气并保护ArF激光激发模块在激光传输过程中不受外界环境污染干扰。

4.如权利要求3所述的紫外与深紫外光学薄膜元件双波长激光荧光光谱仪,其特征在于,所述充N2气保护管路(24)在ArF激光激发模块和样品室对应处设有小孔,在ArF准分子激光器(20)入射端和第一准直扩束镜系统(23)出射端分别安装一个窗口片。

5.如权利要求1所述的紫外与深紫外光学薄膜元件双波长激光荧光光谱仪,其特征在于,所述KrF激光激发模块包括:KrF准分子激光器(30)、第二快门(31)、第二电控可变衰减器(32)和第二准直扩束镜系统(33);所述KrF准分子激光器(30)发射KrF激光,经第二快门(31),入射至第二电控可变衰减器(32),由第二电控可变衰减器(32)调节功率后的激光,入射至第二准直扩束镜系统(33),使长宽比2∶1的入射光变成长宽比1∶1的出 射光,进入样品室入射至样品表面。

6.如权利要求1所述的紫外与深紫外光学薄膜元件双波长激光荧光光谱仪,其特征在于,所述样品室由样品夹具(40)、金属腔体(41)和消光器(42)组成;所述样品夹具(40)放置于ArF激光和KrF激光交叉夹角的中心线处;所述消光器(42)用来吸收激发光源的反射和透射的光线,所述金属腔体(41)构成样品室外围,在激光入射和出射处开三处孔。

7.如权利要求6所述的紫外与深紫外光学薄膜元件双波长激光荧光光谱仪,其特征在于,所述样品夹具(40)能够绕其底座进行180度的旋转。

8.如权利要求1所述的紫外与深紫外光学薄膜元件双波长激光荧光光谱仪,其特征在于,所述荧光探测模块包括:荧光聚焦系统(50)、荧光单色器(51)和光电探测器(52);样品被激发所产生的荧光进入荧光聚焦系统(50),经会聚后进入荧光单色器(51),由荧光单色器(51)对入射荧光进行分光,所产生的单色光进入光电探测器(52),所述光电探测器(52)把光信号转换成电信号。 

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