[发明专利]一种用于监控GPU插座磨损的电路和方法

说明书

技术领域

本发明涉及电路技术领域，尤其涉及一种用于监控GPU（Graphics Processing Unit，图形处理单元）插座（Socket）磨损的电路和方法。

背景技术

为了获得合格的GPU产品，在出厂前需要对其进行一系列的测试，其中包括SLT（Socket Level Test，插座级测试）。具体的，SLT要求将待测的GPU插入GPU插座上来实现相关测试。

但随着GPU插入次数的增加，GPU插座的性能会因为磨损而逐渐退化。当GPU插座的磨损情况达到一定程度时，如果用户不及时加以更换，就会得到错误的GPU测试结果。例如“伪失效（fake failure）”，也就是即使待测的GPU是合格产品，但由于GPU插座磨损的原因，用户却会得到该GPU不合格的测试结果，以致可能将合格产品作为残次品处理掉。

因此，需要提供一种能够监控GPU插座磨损情况的技术方案以解决上述问题。

发明内容

为了解决该问题，本发明公开了一种用于监控GPU插座磨损的电路和方法，以实现对GPU插座磨损情况的监视，进而加以控制。

本发明提供的用于监控GPU插座磨损的电路，该电路包括：第一输入端，连接到所述GPU插座的核心电压导出点以获得由所述GPU插座导出的第一待测GPU核心电压；第二输入端，连接到所述GPU插座的核心电压直测点以直接从待测GPU管脚处获得第二待测GPU核心电压；监视芯片，分别与所述第一输入端和所述第二输入端连接，用于监视所述第一输入端和所述第二输入端之间的压降，并通过其输出端输出。

优选的，所述核心电压导出点位于安装所述GPU插座的印刷电路板上。

优选的，所述电路设置于安装所述GPU插座的印刷电路板上。

优选的，所述监视芯片为模拟-数字转换器。

优选的，所述第一输入端连接到所述监视芯片的正极，所述第二输入端连接到所述监视芯片的负极；或者，所述第一输入端连接到所述监视芯片的负极，所述第二输入端连接到所述监视芯片的正极。

优选的，所述电路还包括与所述监视芯片的输出端连接的控制芯片，用于确定所述压降是否超出设定值，从而实现对于磨损过度的GPU插座的控制。

优选的，所述电路还包括与所述控制芯片连接的报警器，所述控制芯片在所述压降超出设定值时触发所述报警器。

优选的，所述报警器为软件报警器或硬件报警器。

优选的，所述电路还包括与所述控制芯片连接的显示器，用于实时显示所述压降。

本发明提供的用于监控GPU插座磨损的方法包括：监视所述GPU插座的核心电压导出点与核心电压直测点之间的压降；以及，确定所述压降是否超出设定值。

优选的，所述核心电压导出点位于安装所述GPU插座的印刷电路板上。

优选的，所述方法通过设置在安装所述GPU插座的印刷电路板上的专用电路实现。

优选的，所述监视压降的步骤还包括对所述压降进行模拟-数字转换的步骤。

优选的，在确定所述压降超出设定值之后还包括报警的步骤。

优选的，可以通过软件或者硬件的方式实现报警。

优选的，还包括实时显示所述压降的步骤。

通过本发明的技术方案，可以实现对于GPU插座性能的监视，进而加以控制，从而避免继续使用磨损过度的GPU插座。

本发明的附加功能和优点将在如下的描述中阐明，还有部分通过描述是显而易见的，或由本发明的实践可以得知。通过在书面的描述、权利要求书和附图中特别指出的结构，将实现并获得本发明的优点。

可以理解的是，无论是上述的总体描述还是如下的详细描述都是示例性和解释性的，并且旨在提供对所述的本发明进一步的解释。

附图说明

附图提供对本发明进一步的理解，并且并入此说明书中并构成其中的一部分，这些附图示出了本发明的实施例并与描述一起用于解释本发明的原理。

图1A为根据一示范性实施例，本发明所提供的用于监控GPU插座磨损的电路的应用环境示意图。

图1B为根据一示范性实施例，本发明所提供的用于监控GPU插座磨损的电路的功能框图。

图1C为根据一示范性实施例，使用本发明提供的用于监控GPU插座磨损的电路的示意图。

图2为根据一示范性实施例，本发明提供的用于监控GPU插座磨损的方法的流程图。

具体实施方式