[发明专利]一种p型导电氧化锌薄膜材料及制备方法有效

专利信息
申请号: 201110354868.8 申请日: 2011-11-10
公开(公告)号: CN102386246A 公开(公告)日: 2012-03-21
发明(设计)人: 汤子康;陈明明;苏龙兴;张权林;祝渊;吴天准;桂许春;项荣 申请(专利权)人: 中山大学
主分类号: H01L31/0296 分类号: H01L31/0296;H01L31/20;H01L21/36
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 陈卫
地址: 510275 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 导电 氧化锌 薄膜 材料 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种p型导电氧化锌薄膜材料,其特征在于:包括衬底(1)及生长于衬底(1)上的外延层,自所述衬底至外延层之间依次设有金属镁薄层(2)、氧化镁薄层(3)、生长温度逐渐升高的第一氧化锌层(4)与第二氧化锌层(5);所述外延层为在氧化锌合金中掺入受主元素B和掺入A原子形成的p型AZnO:B层(6)。

2.根据权利要求1所述的p型导电氧化锌薄膜材料,其特征在于:所述衬底(1)的材料为蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓或砷化镓。

3.根据权利要求1所述的p型导电氧化锌薄膜材料,其特征在于:所述金属镁薄层(2)的厚度为0.5nm~1nm。

4.根据权利要求1所述的p型导电氧化锌薄膜材料,其特征在于:所述氧化镁薄层(3)的厚度为2nm~5nm。

5.根据权利要求1所述的p型导电氧化锌薄膜材料,其特征在于:所述第一氧化锌层(4)的厚度为1nm~5nm。

6.根据权利要求1所述的p型导电氧化锌薄膜材料,其特征在于:所述第二氧化锌层(5)的厚度为20nm~50nm。

7.根据权利要求1所述的p型导电氧化锌薄膜材料,其特征在于:所述p型AZnO:B层(6)的厚度为500nm~800nm;其中,A原子为镁或铍原子,且A原子的含量为0.01%~15%;B原子为氮、磷或砷。

8.一种如权利要求1-7所述的p型导电氧化锌薄膜材料的制备方法,其特征在于包括如下步骤:

1)清洗衬底:所述衬底(1)在生长之前依次经过氢氟酸、丙酮、异丙醇、无水酒精、去离子水化学试剂清洗或依次经过浓磷酸与浓硫酸的混合液、丙酮、异丙醇、无水酒精、去离子水化学试剂清洗;然后在真空、氧气、氧等离子体、氮气、氮气等离子体氛围下退火15~30分钟,退火温度为700~1000℃,使衬底表面原子排布整齐;

2)沉积金属镁层:所述金属镁层(2)通过等离子体辅助分子束外延、金属有机化学气相沉积、脉冲激光沉积或射频磁控溅射沉积在衬底(1)表面;所述金属镁层(2)生长腔内的真空度为10-2~10-8Torr,衬底(1)温度为400~600℃;且所述金属镁层的厚度为0.5~1nm;

3)沉积氧化镁层:所述氧化镁层(3)通过等离子体辅助分子束外延、金属有机化学气相沉积、脉冲激光沉积或射频磁控溅射沉积在金属镁层上;所述氧化镁层生长腔内的真空度为10-2~10-8Torr,衬底温度为400~600℃;所述氧化镁层的厚度为2~5nm;

4)沉积第一氧化锌层:所述第一氧化锌层(4)通过等离子体辅助分子束外延、金属有机化学气相沉积、脉冲激光沉积或射频磁控溅射沉积在氧化镁层上;所述第一氧化锌层生长腔内的真空度为10-2~10-8Torr,衬底温度为400~600℃;所述第一氧化锌层的厚度为1nm~5nm;

5)升温:将所述衬底(1)温度升至700~800℃,升温速率为20~40℃/min,退火时间为1~5分钟;

6)沉积第二氧化锌层:将衬底(1)降温后,所述第二氧化锌层(5)通过等离子体辅助分子束外延、金属有机化学气相沉积、脉冲激光沉积或射频磁控溅射沉积在第一氧化锌层(4)上;所述第二氧化锌层(5)生长腔内的真空度为10-2~10-8Torr,衬底(1)温度为500~600℃;所述第二氧化锌层(5)的厚度为20nm~50nm;

7)再升温:将所述衬底(1)温度再次升至700~800℃,升温速率为20~40℃/min,退火时间为1~5分钟;

8)沉积p型AZnO:B层:将衬底(1)降温后,所述p型AZnO:B层(6)通过等离子体辅助分子束外延、金属有机化学气相沉积、脉冲激光沉积或射频磁控溅射沉积在第二氧化锌层(5)上;所述p型AZnO:B层(6)生长腔内的真空度为10-2~10-8Torr,衬底(1)温度为500~650℃;所述p型AZnO:B层(6)的厚度为500nm~800nm;

9)退火:将所述衬底(1)升温后作退火处理;所述衬底(1)的升温速度为20~40℃/min,温度为750~900℃;

10)降温:将所述衬底(1)降低温度至室温,降温速度为20~40℃/min,即得到p型导电氧化锌薄膜材料。

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