[发明专利]元器件分类检测法有效
| 申请号： | 201110362461.X | 申请日： | 2011-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN102495302A | 公开（公告）日： | 2012-06-13 |
| 发明（设计）人： | 李强;吴东;金历群 | 申请（专利权）人： | 上海卫星工程研究所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 中国和平利用军工技术协会专利中心 11215 | 代理人： | 容敦璋 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 元器件 分类 检测 | ||
【权利要求书】：
1.一种元器件分类检测法，包括：
步骤1)、利用辐照测试装置得到元器件的辐照测试数据，对这些辐照测试数据进行统计分析，得到耐量的几何平均值和对数标准方差SlnD；
步骤2)、根据所述耐量的几何平均值计算出RDM值：
其中，D0表示环境要求量；
步骤3)、查正态分布的单侧容许限表，根据给定样本容量n、置信度C和可靠度Ps条件时的单侧容许限系数K；
步骤4)、根据步骤1)得到的对数标准方差SlnD以及步骤3)得到的单侧容许限系数K计算PCC值：
步骤5)、比较步骤2)得到的RDM值以及步骤4)得到的PCC值，确定元器件的类别，实现对元器件的分类检测。
2.根据权利要求1所述的元器件分类检测法，其特征在于，所述辐照测试数据包括总剂量耐量、中子辐照注量、辐照敏感参数。
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