[发明专利]一种水中微小颗粒三维体散射函数的测量系统及方法有效

专利信息
申请号: 201110363604.9 申请日: 2011-11-16
公开(公告)号: CN102519848A 公开(公告)日: 2012-06-27
发明(设计)人: 李微;杨克成;夏珉;韩晨 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 李佑宏
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 水中 微小 颗粒 三维 散射 函数 测量 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种水中颗粒的三维体散射函数测量系统,包括抛物球面反射镜(4),样品池(5),望远透镜组(6,8),光电探测器(10)和计算处理单元(11),所述样品池(5)设置于抛物球面反射镜(4)的镜腔内,其中心部分位于抛物球面反射镜(4)镜腔的抛物球面焦点处,入射光经整形和功率调整后会聚于抛物球面反射镜(4)的镜腔焦点位置,经样品池(5)内进行颗粒散射后入射到(4)的抛物球面,变换为平行散射光,再通过所述望远透镜组(6,8)调整束宽后,由光电探测器(10)接收,并将接收的散射光光强信息转换为电信号传递至计算处理单元(11)进行处理后,即可测量得到颗粒的三维体散射函数。

2.根据权利要求1所述的测量系统,其特征在于,该系统还包括会聚透镜(2)和非线性衰减片(3),所述入射光经该会聚透镜(2)和非线性衰减片(3)实现整形和功率调整。

3.根据权利要求1或2所述的测量系统,其特征在于,所述望远透镜组(6,8)之间还设置有光阑(7),用于滤除非平行入射光。

4.根据权利要求1-3之一所述的测量系统,其特征在于,在所述望远透镜组(6,8)和光电探测器(10)之间还设置有窄带滤光片(9),用于滤除宽光谱范围里的杂光。

5.根据权利要求1-4之一所述的测量系统,其特征在于,所述抛物球面反射镜(4)侧端壁上开有贯通镜腔的通孔,该通孔中心轴与球面焦点共线,入射光通过该通孔入射到抛物球面反射镜(4)的抛物球面焦点处。

6.根据权利要求1-5之一所述的测量系统,其特征在于,该系统还包括激光器(1),所述入射光由该激光器(1)发出。

7.应用权利要求1-6之一所述的测量系统进行测量的方法,包括如下步骤:

(1)开启激光器1及光电探测器10,预热激光器1至输出功率稳定输出。通过调整衰减片3调整颗粒入射光强度,在避免光电探测器饱和的前提下充分利用其动态响应范围。

(2)将含样品颗粒溶液的样品池5置入抛物镜,散射中心与抛物镜焦点重合,关闭实验环境所有光源,在全黑环境下测量样品散射光,获取图像,重复获取多帧样品散射光图像。

(3)取出样品池5,清洗后注入去离子水,在与步骤(2)中的同等条件下获取去离子水发生散射的散射光图案(即背景图案)。

(4)通过计算机处理,对步骤(2)获取的多帧图像取强度平均值作为结果R,步骤(3)得到的背景图案设为D,由背景图案D修正散射光图案R,获得修正后的散射光图案C,由修正图案分析颗粒散射光强度分布的变化。

(5)根据抛物球面镜反射原理,可得到光电探测器10每个单元所对应的抛物球面镜上的面积元,利用面积元的几何对应关系,由修正图案C获得抛物球面镜上每单位面积所搜集到的散射光,从而进一步获取水中颗粒的三维体散射函数分布。

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