[发明专利]具有可独立编程自由层畴的多位磁存储器无效
申请号: | 201110371575.0 | 申请日: | 2011-11-10 |
公开(公告)号: | CN102543180A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | X·娄;Z·高;D·V·季米特洛夫 | 申请(专利权)人: | 希捷科技有限公司 |
主分类号: | G11C16/02 | 分类号: | G11C16/02;H01L43/08 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 钱慰民 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 独立 编程 自由 磁存储器 | ||
1.一种存储单元,包括具有铁磁自由层的磁性隧道结(MTJ),所述铁磁自由层具有多个磁畴,所述多个磁畴各自可独立编程至被读取为MTJ的逻辑状态的预定磁化。
2.如权利要求1所述的存储单元,其特征在于,第一畴存在于自由层的第一区中,所述第一区比第二畴所在的第二区宽。
3.如权利要求2所述的存储单元,其特征在于,所述第一和第二区由于形状各向异性而保持独立磁畴。
4.如权利要求2所述的存储单元,其特征在于,所述第一区具有第一宽度,所述第一宽度以直角凹口过渡到第二区的第二宽度。
5.如权利要求2所述的存储单元,其特征在于,所述第一区具有第一宽度,所述第一宽度以连续曲线侧壁过渡到第二区的第二宽度。
6.如权利要求1所述的存储单元,其特征在于,所述MTJ具有钉扎层,且隧道结具有与自由层的区域相同的宽度。
7.如权利要求2所述的存储单元,其特征在于,所述第一区具有比第二区低的磁矫顽力。
8.如权利要求1所述的存储单元,其特征在于,用不同的编程电流将不同的预定磁化被编程至畴。
9.如权利要求2所述的存储单元,其特征在于,所述第一和第二区横向相邻且各自接触隧道结层。
10.如权利要求1所述的存储单元,其特征在于,所述磁畴被读取为并联电阻。
11.如权利要求2所述的存储单元,其特征在于,所述第一和第二区具有连续的曲线侧壁。
12.一种方法,包括:
提供具有铁磁自由层的磁性隧道结(MTJ),所述铁磁自由层具有多个磁畴;以及
将可独立编程的畴的预定磁化读取为MTJ的逻辑状态。
13.如权利要求12所述的方法,其特征在于,由流过字线的电流生成磁通量,其中所述字线与第一和第二MTJ非接触地相邻。
14.如权利要求12所述的方法,其特征在于,所述磁通量小于预定阈值。
15.如权利要求12所述的方法,其特征在于,大于预定阈值的第二磁通量将所述畴编程到一共同的磁化。
16.如权利要求15所述的方法,其特征在于,所述第一磁通量沿第一方向流动,且第二磁通量沿相反的第二方向流动。
17.如权利要求15所述的方法,其特征在于,利用第二磁通量然后第一磁通量的连续通过将磁畴编程至相反磁化。
18.如权利要求12所述的方法,其特征在于,所述MTJ被耦合到选择性地允许同时读取MTJ的选择设备。
19.一种存储单元,包括具有铁磁自由层的磁性隧道结(MTJ),所述铁磁自由层具有多个磁畴,所述多个磁畴对应于横向相邻的第一和第二区,所述第一和第二区由于形状各向异性而具有不同的磁矫顽力,每个磁畴可独立编程至被读取为MTJ的逻辑状态的预定磁化。
20.如权利要求19所述的存储单元,其特征在于,所述第一和第二区各自接触隧道结且具有相应的第一和第二宽度,所述第一宽度匹配MTJ的隧道结和钉扎层的共同宽度。
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