[发明专利]折叠式电子设备及其开闭模式检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及折叠式电子设备，尤其涉及一种折叠式电子设备及其开闭模式检测方法。

背景技术

随着电子技术和通信技术的飞速发展，在人们的日常生活和工作中，经常需要使用各种电子设备，如电话机、计算机、个人电脑、笔记本电脑、个人数字助理(PDA)、移动电话(手机)或其他便携式电子设备等。在这些电子设备中，不乏折叠式的设计。

图1为一种翻盖式手机的示意图，图2为一种膝上型电脑的示意图，图3为一种打字机的示意图，如图1-图3所示，上述电子设备都是折叠式的设计，都包括机身和机盖，在机盖上设置有显示屏，在机身上设置有键盘。随着技术的发展，电容触摸屏也将应用于上述折叠式电子设备。

发明人在实现本发明的过程中发现，折叠式电子设备的开闭模式通常是通过磁阻传感器或者机械按键检测的。随着电容触摸屏的广泛应用，如果能通过电容触摸屏检测这些折叠式电子设备的开闭模式将有利于节约成本和简化操作。

发明内容

鉴于现有技术的上述问题，提出了本发明。

本发明致力于提供一种折叠式电子设备及其开闭模式检测方法，通过在折叠式电子设备的机身的键盘或者物理结构上预先定义多个金属检测点，来利用电容触摸屏检测该折叠式电子设备的开闭模式。

根据本发明的第一方面，提供了一种折叠式电子设备，所述折叠式电子设备包括机身和机盖，所述机身上设置有键盘，所述机盖上设置有电容触摸屏，其中，所述机身上设置有多个金属检测点；与所述电容触摸屏连接的传感器根据感应到的所述多个金属检测点与所述电容触摸屏之间因电容效应产生的电容值的变化，确定所述折叠式电子设备的开闭模式。

根据本发明的第二方面，提供了一种如第一方面所述的折叠式电子设备，其中，当所述折叠式电子设备关闭时，所述多个金属检测点与所述机盖靠近，第一预定数量的金属检测点与所述电容触摸屏之间因电容效应产生的电容值发生变化，所述传感器感应到所述第一预定数量的金属检测点与所述电容触摸屏之间的电容值发生变化，确定所述折叠式电子设备为关闭模式；当所述折叠式电子设备打开时，所述多个金属检测点与所述机盖远离，第二预定数量的金属检测点与所述电容触摸屏之间因电容效应产生的电容值发生变化，所述传感器感应到所述第二预定数量的金属检测点与所述电容触摸屏之间的电容值发生变化，确定所述折叠式电子设备为打开模式；其中，所述第一预定数量大于所述第二预定数量。

根据本发明的第三方面，提供了一种如第二方面所述的折叠式电子设备，其中，所述第一预定数量为一个区间，且该区间的上限等于所述金属检测点的个数；所述第二预定数量为一个区间，且该区间的下限为零。

根据本发明的第四方面，提供了一种如第一方面所述的折叠式电子设备，其中，所述多个金属检测点设置于所述机身的上表面，且位于不易同时被按压的位置。

根据本发明的第五方面，提供了一种如第四方面所述的折叠式电子设备，其中，所述键盘为金属表面键盘，所述多个金属检测点为在所述金属表面键盘上预定义的多个金属检测点。

根据本发明的第六方面，提供了一种如第四方面所述的折叠式电子设备，其中，所述折叠式电子设备还包括设置于所述键盘下面的金属支撑结构，所述多个金属检测点为在所述金属支撑结构上预定义的多个金属检测点。

根据本发明的第七方面，提供了一种如第四方面所述的折叠式电子设备，其中，所述折叠式电子设备还包括设置于所述键盘周围的金属框架，所述多个金属检测点为在所述金属框架上预定义的多个金属检测点。

根据本发明的第八方面，提供了一种折叠式电子设备的开闭模式检测方法，所述折叠式电子设备包括机身和机盖，所述机身上设置有键盘，所述机盖上设置有电容触摸屏，其中，所述方法包括：通过与所述电容触摸屏连接的传感器感应设置于所述机身的预先定义的多个金属检测点与所述电容触摸屏之间因电容效应产生的电容值的变化；根据感应到的所述电容值的变化确定所述折叠式电子设备的开闭模式。