[发明专利]微粒探测器，系统与方法

权利要求书

1.一种探测微粒的方法，包括：

向被监测区域发射射线束，以及；

用图像捕获设备探测区域的图像变化，所述图像变化标示微粒的存在，其中所述方法还包括以下步骤：

减轻所探测图像中的一个或多个变化以及变化的原因，所述变化对应于除了所关注的粒子存在之外的事件。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述减轻步骤包括以下面一个或者多个：

提供扩展的束宽，使得至少一维而与所述扩展束相比较小的第一物品与所述束产生最小相互作用，从而得到所测图像中相对减少的变化；

提供发射束的预定平移运动，使得避免所述束与第二物品相互作用；

确定由第三物品引起的束的特性散射，使得区别所述第三物品与关注的粒子。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一物品和第二物品包括以下的一个或者多个物体：

蜘蛛网；

线；

细丝。

4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述第三物品包括尺寸远大于所关注的粒子的物体。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述物体包括沙尘粒。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法，其特征在于，所述微粒包括烟雾微粒。

7.一种探测微粒的方法，包括：

向被监测区域发射射线束，以及；

用图像捕获设备探测区域的图像变化，所述图像变化标示微粒存在，其中方法还包括以下步骤：

用探测仪探查所述发射束用以调试所述探测步骤。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述探测仪包括半透明物体。

9.根据权利要求7或8所述的方法，其特征在于，所述探测仪包括与所述被探测的粒子的光散射特性近似的光散射特性。

10.根据权利要求7至9中任一项所述的方法，其特征在于，所述探测仪包括以下一个或者多个：

当与所述发射束相互作用时，大体二维的物体；

当与所述发射束相互作用时，大体三维的物体。

11.根据权利要求7至9中任一项所述的方法，其特征在于，为了便于移入所述发射束，所述探测仪相对地平面可移动。

12.一种探测微粒的方法，包括：

向被监测区域发射射线束，以及；

用图像捕获设备探测区域的图像变化，所述图像变化标示微粒存

在，其中所述方法还包括以下步骤：

将所述射线束分为多个片段；

确定每一射线片段的图像变化；

为控制点提供被确定的每一片段图像的变化，以模拟多个点型微粒探测器。

13.根据权利要求1至12中任一项所述的方法，其特征在于，所述图像捕获设备包括一个或者多个图像捕获装置。

14.根据权利要求1至13中任一项所述的方法，其特征在于，所述图像捕获设备包括反向图像捕获装置。

15.根据权利要求1至14中任一项所述的方法，其特征在于，还包括以下步骤：

提供与第一图像捕获装置成对的第一发射器；

提供与第二图像捕获装置成对的第二发射器；

用所述第二图像捕获装置监控所述第一发射器的发射束；

用所述第一图像捕获装置监控所述第二发射器的发射束。

16.根据权利要求15所述的方法，其特征在于，成对的第一发射器及第一图像捕获装置和成对的第二发射器及第二图像捕获装置中的一对或者每对设置在相同的安装装置中。

17.根据权利要求15或16所述的方法，其特征在于，还包括以下步骤：

预对准成对的第一发射器及第一图像捕获装置和成对的第二发射器及第二图像捕获装置中一对或每对。

18.根据权利要求17所述的方法，其特征在于，所述预对准步骤包括：

设置各自发射器的束方向，使得所述束以相对于相应图像捕获装置的视野中心的预定角度显现。