[发明专利]改进的频率校正方法和装置有效
申请号: | 201110377740.3 | 申请日: | 2011-11-24 |
公开(公告)号: | CN103138749A | 公开(公告)日: | 2013-06-05 |
发明(设计)人: | 冯向光;顾奇龙;饶芳敏 | 申请(专利权)人: | 无锡辐导微电子有限公司 |
主分类号: | H03L1/02 | 分类号: | H03L1/02 |
代理公司: | 无锡互维知识产权代理有限公司 32236 | 代理人: | 王爱伟 |
地址: | 214125 江苏省无*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 改进 频率 校正 方法 装置 | ||
1.一种频率校正方法,其特征在于,其包括:
获得参考频率信号的实际频率以及该实际频率与其期望频率的频率偏移;
根据目标频率信号的频率及所述参考频率信号的期望频率确定分频比;
根据所述频率偏移确定所述分频比的校正值以及校正余数;
利用所述校正值校正所述分频比得到校正分频比;
基于所述校正余数和一预定调整频率信号的周期确定余数补偿值;
根据所述校正分频比对所述参考频率信号的实际频率进行分频,利用所述余数补偿值和所述预定调整频率信号对所述分频进行补偿得到目标频率信号,
其中调整频率信号的频率大于所述参考频率信号的频率。
2.根据权利要求1所述的频率校正方法,其特征在于:在所述分频比上加上或减去所述校正值得到所述校正分频比,根据所述校正余数所占的预定调整频率信号的周期个数确定所述余数补偿值。
3.根据权利要求1所述的频率校正方法,其特征在于:根据所述频率偏移的1/2ft所占的参考频率信号的期望频率的周期的个数确定所述校正值,根据所述频率偏移的1/2ft所占的参考频率信号的期望频率的整数周期后的余数确定校正余数,ft为目标频率信号的频率。
4.根据权利要求1-3任一所述的频率校正方法,其特征在于:根据所述校正分频比对所述参考频率信号的实际频率进行分频,利用所述余数补偿值和所述预定调整频率信号对所述分频进行补偿得到目标频率信号包括:
从初始值开始对所述参考频率信号的实际频率的周期进行计数得到第一计数值,在第一计数值达到当前的校正分频比时,重新从初始值开始对所述参考频率信号的实际频率的周期进行计数得到第一计数值,并开始对所述调整频率信号的周期进行计数得到第二计数值,在第二计数值达到当前的补偿累计值时,所述目标频率信号的信号翻转以结束目标频率信号的上一个半个周期,开始目标频率信号的下一个半个周期,
其中所述补偿累计值的初始值等于初始的余数补偿值,在结束上一个半个周期后,如果先前的补偿累计值加上最新的余数补偿值超过预定进位值,则用先前的补偿累计值和最新的余数补偿值的和减去所述预定进位值得到的值作为当前的补偿累计值,此时当前的校正分频比等于计算得到的最新的校正分频比加1,否则,用先前的补偿累计值和最新的余数补偿值的和作为当前的补偿累计值,此时当前的校正分频比等于计算得到的最新的校正分频比。
5.根据权利要求4所述的频率校正方法,其特征在于:在开始目标频率信号的一个半个周期开始后重新根据所述参考频率信号的当前实际频率与其期望频率的当前频率偏移重新计算得到最新的校正分频比和最新的余数补偿值。
6.一种频率校正装置,其特征在于,其包括:
温度获取模块,获取晶体振荡器的温度;
频率信号产生模块,从所述晶体振荡器中获取参考频率信号的实际频率;
频率偏移生成模块,根据所述温度获取所述参考频率信号的实际频率与其期望频率的频率偏移;和
频率校正模块,根据所述校正分频比对所述参考频率信号的实际频率进行分频,利用所述余数补偿值和所述预定调整频率信号对所述分频进行补偿得到目标频率信号。
7.根据权利要求6所述的频率校正装置,其特征在于:所述频率校正模块在所述分频比上加上或减去所述校正值得到所述校正分频比,所述频率校正模块根据所述校正余数所占的预定调整频率信号的周期个数确定所述余数补偿值。
8.根据权利要求6所述的频率校正装置,其特征在于:所述频率校正模块根据所述频率偏移的1/2ft所占的参考频率信号的期望频率的周期的个数确定所述校正值,根据所述频率偏移的1/2ft所占的参考频率信号的期望频率的整数周期后的余数确定校正余数,ft为目标频率信号的频率。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于无锡辐导微电子有限公司,未经无锡辐导微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110377740.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。